[发明专利]一种用于定征微观随机结构数量密度的光声Nakagami统计分析方法有效
申请号: | 201910297492.8 | 申请日: | 2019-04-15 |
公开(公告)号: | CN109938701B | 公开(公告)日: | 2020-02-21 |
发明(设计)人: | 陶超;郜晓翔;戴娜;刘晓峻 | 申请(专利权)人: | 南京大学 |
主分类号: | A61B5/00 | 分类号: | A61B5/00;G06K9/00 |
代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 刘珊珊 |
地址: | 210093*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 微观 随机 结构 数量 密度 nakagami 统计分析 方法 | ||
1.一种用于定征微观随机结构数量密度的光声Nakagami统计分析方法,其特征在于:包括如下步骤:
(1)测量光声信号;
(2)通过数据直方图来描述光声信号的幅度包络,统计光声信号幅度的概率密度函数;
(3)采用Nakagami分布逼近概率密度函数,得到Nakagami分布的最优参数;
(4)将光声信号分成连续的若干帧,利用步骤(2)和(3)的方法计算每一帧的Nakagami分布最优参数;
(5)改变超声换能器的位置,并重复步骤(1)~(4),得到不同位置采集到的光声信号对应的形状参数的时间序列;
(6)将Nakagami分布的最优形状参数时间序列作为成像参数,采用延迟求和算法,计算样品中坐标为r的微观随机结构所对应的Nakagami分布的形状参数的平均值,从而获得样品的光声图像S(r);
(7)通过光声图像S(r)的对比度定征微观随机结构数量密度。
2.根据权利要求1所述的用于定征微观随机结构数量密度的光声Nakagami统计分析方法,其特征在于:所述步骤(1)具体为:利用脉冲激光器产生的脉冲激光照射样品,样品吸收脉冲激光的能量并产生超声波;位于i位置处的超声换能器接收到超声波,经过电路系统进行放大和采样后存储于计算机内,将存储的信号记为光声信号p(t,ri),ri表示i位置的超声换能器的坐标,i=1,2,3,…,I,t表示发生时间。
3.根据权利要求1所述的用于定征微观随机结构数量密度的光声Nakagami统计分析方法,其特征在于:所述步骤(2)具体为:首先,对光声信号p(t,ri)作希尔伯特变换得到P(t,ri)=|H[p(t,ri)]|,H表示希尔伯特变换;然后,对P(t,ri)进行直方图统计分析,计算光声信号幅度R的概率密度函数F(R)。
4.根据权利要求1所述的用于定征微观随机结构数量密度的光声Nakagami统计分析方法,其特征在于:所述步骤(3)具体为:采用Nakagami分布f(R;m,Ω)逼近概率密度函数F(R),f(R;m,Ω)为:
其中:Γ(·)和U(·)分别代表Gamma函数和单位阶跃函数,m和Ω是Nakagami分布的两个待定参数,形状参数m决定Nakagami分布的形状,幅度参数Ω决定Nakagami分布的幅度;
搜索m和Ω,使得f(R;m,Ω)在最小二乘准则下最佳拟合F(R),即满足下式:
||f(R;m,Ω)-F(R)||→min
此时,m和Ω即为最优的形状参数m和幅度参数Ω。
5.根据权利要求1所述的用于定征微观随机结构数量密度的光声Nakagami统计分析方法,其特征在于:所述步骤(4)具体为:将光声信号p(t,ri)分成连续的若干帧,第j帧记为p(tj,ri),T为相邻两帧的时间间隔,W为每帧的时间窗口宽度,tj为第j帧的发生时间;采用步骤(2)和(3)的方法计算第j帧最优的形状参数m(jT,ri)和幅度参数Ω(jT,ri),从而得到ri位置采集到的光声信号对应的形状参数时间序列。
6.根据权利要求1所述的用于定征微观随机结构数量密度的光声Nakagami统计分析方法,其特征在于:所述步骤(6)中,样品的光声图像S(r):
其中:round(·)表示四舍五入后取整,c表示声速。
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