[发明专利]晶片测试组件及其电性连接模块

权利要求书

1.一种晶片测试组件，其特征在于，所述晶片测试组件包括：

一信号传输板，包含有多个连接垫，并且所述信号传输板用来连接于一探针头；

一功能板，具有位于相反侧的一第一板面与一第二板面，并且所述功能板包含有内建的多个电容、位于所述第一板面的多个第一接点、及位于所述第二板面的多个第二接点；其中，多个所述第一接点与多个所述第二接点电性耦接于多个所述电容；

一第一电性连接模块，夹持于所述信号传输板与所述功能板之间；其中，所述第一电性连接模块包含有：

多个第一弹片，彼此间隔地设置且各包含有一第一基部、及自所述第一基部朝彼此远离方向延伸的一第一上弹性臂与一第一下弹性臂；及

一第一绝缘件，连接多个所述第一弹片的所述第一基部，并且每个所述第一弹片的所述第一上弹性臂与所述第一下弹性臂分别突伸出所述第一绝缘件的相反两侧；

其中，多个所述第一弹片的所述第一上弹性臂分别顶抵于所述信号传输板的多个所述连接垫，而多个所述第一弹片的所述第一下弹性臂分别顶抵于所述功能板的多个所述第一接点；

一测试电路板，包含有间隔设置的多个金属垫，并且所述测试电路板用来电性耦接于一测试机台；以及

一第二电性连接模块，夹持于所述功能板与所述测试电路板之间；其中，所述第二电性连接模块包含有：

多个第二弹片，彼此间隔地设置且各包含有一第二基部、及自所述第二基部朝彼此远离方向延伸的一第二上弹性臂与一第二下弹性臂；及

一第二绝缘件，连接多个所述第二弹片的所述第二基部，并且每个所述第二弹片的所述第二上弹性臂与所述第二下弹性臂分别突伸出所述第二绝缘件的相反两侧；

其中，多个所述第二弹片的所述第二上弹性臂分别顶抵于所述功能板的多个所述第二接点，而多个所述第二弹片的所述第二下弹性臂分别顶抵于所述电路板的多个所述金属垫；

其中，所述信号传输板、所述功能板、及所述测试电路板通过所述第一电性连接模块与所述第二电性连接模块而能彼此电性耦接。

2.依据权利要求1所述的晶片测试组件，其特征在于，所述信号传输板包含有位于相反侧的一顶面与一底面，并且多个所述连接垫位于所述信号传输板的所述底面；所述信号传输板的所述顶面用来连接于所述探针头，并且多个所述连接垫能电性耦接于所述探针头。

3.依据权利要求1所述的晶片测试组件，其特征在于，每个所述第一弹片为一体成形的单件式构件，并且所述第一电性连接模块的多个所述第一基部通过所述第一绝缘件的连接而呈共平面设置。

4.依据权利要求3所述的晶片测试组件，其特征在于，每个所述第一弹片的所述第一基部包围形成有一开口，并且每个所述第一弹片的所述开口于一俯视平面图中呈S字形，而每个所述第一弹片于一侧视平面图中呈Z字形。

5.依据权利要求1所述的晶片测试组件，其特征在于，所述晶片测试组件进一步包括有一螺丝组，并且所述信号传输板、所述第一电性连接模块、所述功能板、所述第二电性连接模块、及所述测试电路板通过所述螺丝组的贯穿固定而维持彼此的相对位置；所述测试电路板、所述功能板、及所述信号传输板之间的任何电传输路径未以任何焊接材料达成。

6.依据权利要求1所述的晶片测试组件，其特征在于，所述晶片测试组件进一步包括有一探针头，设置于所述信号传输板，并且所述探针头包含有：

一定位座体；及

多个导电探针，穿设定位于所述定位座体；其中，每个所述导电探针的一端穿出所述定位座体而抵接于所述信号传输板，并且每个所述导电探针的另一端穿出所述定位座体而用来顶抵于一待测物。

7.一种晶片测试组件，其特征在于，所述晶片测试组件包括：

一信号传输板，包含有多个连接垫，并且所述信号传输板用来连接于一探针头；

一功能板，具有位于相反侧的一第一板面与一第二板面，并且所述功能板包含有内建的多个电容、位于所述第一板面的多个第一接点、及位于所述第二板面的多个第二接点；其中，多个所述第一接点与多个所述第二接点电性耦接于多个所述电容，并且所述信号传输板的多个所述连接垫分别焊接固定于所述功能板的多个所述第一接点；

一测试电路板，包含有间隔设置的多个金属垫，并且所述测试电路板用来电性耦接于一测试机台；以及

一电性连接模块，夹持于所述信号传输板与所述测试电路板之间；其中，所述电性连接模块包含有：

多个弹片，彼此间隔地设置且各包含有一基部、及自所述基部朝彼此远离方向延伸的一上弹性臂与一下弹性臂；及

一绝缘件，连接多个所述弹片的所述基部，并且每个所述弹片的所述上弹性臂与所述下弹性臂分别突伸出所述绝缘件的相反两侧；

其中，多个所述弹片的所述上弹性臂分别顶抵于所述功能板的多个所述第二接点，而多个所述弹片的所述下弹性臂分别顶抵于所述测试电路板的多个所述金属垫；

其中，所述功能板及所述测试电路板通过所述电性连接模块而能彼此电性耦接。