[发明专利]一种大面积单元素二维材料制备设备及制备方法在审
申请号: | 201910300279.8 | 申请日: | 2019-04-15 |
公开(公告)号: | CN110004414A | 公开(公告)日: | 2019-07-12 |
发明(设计)人: | 张甲;葛传洋;孙毅;王振龙;维帅 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | C23C14/24 | 分类号: | C23C14/24;C23C14/54;C23C14/56 |
代理公司: | 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司 23211 | 代理人: | 孙莉莉 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 单元素 制备 二维材料 制备设备 二维 低温冷却装置 气氛调节装置 真空调节装置 循环水装置 薄膜材料 材料制备 生产效率 位置可控 蒸发沉积 光刻胶 硅片 衬底 薄膜 气管 生产成本 覆盖 | ||
1.一种大面积单元素二维材料制备设备,其特征在于:包括气氛调节装置(1)、低温冷却装置(2)、气管、真空调节装置、循环水装置和蒸发沉积装置;所述气管包括螺旋型铜管(3-1)、第一接头(3-2)和不锈钢管(3-3);所述螺旋型铜管(3-1)的一端与所述气氛调节装置(1)连接,另一端与第一接头(3-2)连接,所述螺旋型铜管(3-1)放置于低温冷却装置(2)中,所述第一接头(3-2)与不锈钢管(3-3)连接,所述不锈钢管(3-3)与蒸发沉积装置连接,所述真空调节装置与蒸发沉积装置相连,所述循环水装置单独设置,分别与真空调节装置和蒸发沉积装置相连。
2.根据权利要求1所述的设备,其特征在于:所述蒸发沉积装置为热阻式蒸发镀膜仪。
3.根据权利要求1或2所述的设备,其特征在于:所述蒸发沉积装置包括蒸发加热器(6-1)、蒸发舟(6-2)、蒸镀物质(6-3)、样品台(6-4)、真空室(6-5)、真空法兰(6-6)、真空铜垫圈(6-7)、螺钉(6-8)、卡扣(6-9)、配套螺钉(6-10)和膜厚仪(6-11);其中蒸发舟(6-2)与蒸发加热器(6-1)相连,蒸镀物质(6-3)放于蒸发舟(6-2)上,衬底粘贴在样品台(6-4)上,样品台(6-4)与不锈钢管(3-3)通过卡扣(6-9)和配套螺钉(6-10)连接在一起,所述不锈钢管(3-3)与真空法兰(6-6)焊接为一体,不锈钢管(3-3)穿过真空法兰(6-6)进入真空室(6-5),真空法兰(6-6)通过均布在圆周上的螺钉(6-8)与蒸发沉积装置的机体相连,使用真空铜垫圈(6-7)密封,膜厚仪(6-11)探头接线由真空室(6-5)另一侧的真空法兰连出,并与膜厚仪显示器相连。
4.根据权利要求3所述的设备,其特征在于:所述蒸发沉积装置还包括两个第二接头(6-12),所述不锈钢管(3-3)进入真空室(6-5)后通过一个第二接头(6-12)与缠绕在样品台(6-4)上的不锈钢管的一端连接,缠绕在样品台(6-4)上的不锈钢管的另一端与另一个第二接头(6-12)连接,所述另一个第二接头(6-12)的另一端连接的不锈钢管穿出真空法兰(6-6),并与真空法兰(6-6)焊接为一体。
5.根据权利要求3所述的设备,其特征在于:所述蒸发加热器(6-1)分为A、B两个电极,能够蒸镀两种不同材料。
6.根据权利要求3所述的设备,其特征在于:所述真空调节装置包括机械泵(4-1)、真空分子泵(4-2)和放气阀(4-3),用于调节真空室的真空度。
7.根据权利要求3所述的设备,其特征在于:所述循环水装置包括过滤及冷却水箱(5-1)和水管(5-2),所述过滤及冷却水箱(5-1)通过水管(5-2)与所述蒸发沉积装置连接。
8.根据权利要求4-7中任一项所述的设备,其特征在于:所述大面积单元素二维材料的基底为硅片、云母片、石英片或PET。
9.一种利用权利要求1-8中任一项所述的大面积单元素二维材料制备设备的制备方法,其特征在于:
步骤一、根据需要制备的薄膜材料和大小,确定衬底的材料和大小,将衬底粘贴在样品台(6-4)上,并固连在气管上;
步骤二、根据需要制备的薄膜厚度确定蒸镀物质(6-3)的质量,并放在蒸发舟(6-2)上;
步骤三、利用气氛调节装置(1)验漏,并使气管内空气排除,同时调节气管中的气体流量;
步骤四、使真空室(6-5)处于密闭状态,通过操作面板启动循环水装置和真空调节装置,保持真空室内的真空度;
步骤五、待真空室内真空度达到一定数值后,启动低温冷却装置(2)使气管内气体温度降低,打开蒸发沉积装置中的蒸发加热器(6-1)蒸发蒸镀物质(6-3),调节蒸发电流大小可以调节蒸发温度;打开膜厚仪(6-11)测定蒸镀制备的二维薄膜的厚度;
步骤六、待蒸镀物质(6-3)全部蒸发至衬底后结束反应,依次关闭蒸发加热器(6-1)、真空调节装置和循环水装置,待温度降至室温后关闭低温冷却装置(2)和气氛调节装置(1),记录恢复到室温后的膜厚仪(6-11)示数,取出样品。
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