[发明专利]基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测方法及系统

权利要求书

1.基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测方法，其特征在于，包括：

S1、根据放射源运输容器的结构特征和材料特征，结合屏蔽要求，建立并优化放射源运输容器模型；

S2、将多个标准放射源置于所述放射源运输容器内，基于所述放射源运输容器模型，建立所述放射源运输容器的γ模拟谱；

S3、基于所述放射源运输容器的γ模拟谱，求解G(E)函数；

S4、将放射源置于所述放射源运输容器内，通过探测器获取所述放射源运输容器的γ真实谱；

S5、基于所述放射源运输容器的γ真实谱，通过所述G(E)函数计算得到所述放射源运输容器的γ剂量率。

2.根据权利要求1所述的基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测方法，其特征在于，步骤S2包括：

S21、将多个标准放射源置于所述放射源运输容器内，通过所述探测器获取所述多个标准放射源的γ测量能谱；

S22、对所述多个标准放射源的γ测量能谱进行能量刻度，计算得到所述多个标准放射源的γ测量能谱的能量刻度参数；

S23、对所述多个标准放射源的γ测量能谱进行峰形参数刻度，计算得到所述多个标准放射源的γ测量能谱的峰形参数；

S24、基于所述放射源运输容器模型，结合所述多个标准放射源的γ测量能谱的能量刻度参数和峰形参数，通过蒙特卡罗方法模拟得到所述放射源运输容器的γ模拟谱。

3.根据权利要求2所述的基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测方法，其特征在于，步骤S22包括：

获取所述多个标准放射源的γ测量能谱中的各个能量γ射线对应的全能峰中心道址，获得所述多个标准放射源的γ测量能谱的能量刻度曲线，对各能量刻度曲线作最小二乘抛物线拟合，计算得到所述多个标准放射源的γ测量能谱的能量刻度参数。

4.根据权利要求2所述的基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测方法，其特征在于，步骤S23包括：

根据所述多个标准放射源的γ测量能谱和选择的全能峰感兴趣区域，得到各全能峰的半高宽，根据各全能峰的半高宽计算得到所述多个标准放射源的γ测量能谱的峰形参数；

各全能峰的半高宽为：

其中，FWHM为半高宽，a、b为待求解系数，E为入射γ射线能量。

5.根据权利要求1所述的基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测方法，其特征在于，步骤S3中，通过最小二乘法求解G(E)函数。

6.基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测系统，其特征在于，包括：

模型建立模块，用于根据放射源运输容器的结构特征和材料特征，结合屏蔽要求，建立并优化放射源运输容器模型；

模拟谱建立模块，用于将多个标准放射源置于所述放射源运输容器内，基于所述放射源运输容器模型，建立所述放射源运输容器的γ模拟谱；

求解模块，用于基于所述放射源运输容器的γ模拟谱，求解G(E)函数；

真实谱获取模块，用于将放射源置于所述放射源运输容器内，通过探测器获取所述放射源运输容器的γ真实谱；

计算模块，用于基于所述放射源运输容器的γ真实谱，通过所述G(E)函数计算得到所述放射源运输容器的γ剂量率。

7.根据权利要求6所述的基于G(E)函数的放射源运输容器γ屏蔽性能检测系统，其特征在于，所述模拟谱建立模块包括：

获取子模块，用于将多个标准放射源置于所述探测器正前方，通过所述探测器获取所述多个标准放射源的γ测量能谱；

第一计算子模块，用于对所述多个标准放射源的γ测量能谱进行能量刻度，计算得到所述多个标准放射源的γ测量能谱的能量刻度参数；

第二计算子模块，用于对所述多个标准放射源的γ测量能谱进行峰形参数刻度，计算得到所述多个标准放射源的γ测量能谱的峰形参数；

模拟子模块，用于基于所述放射源运输容器模型，结合所述多个标准放射源的γ测量能谱的能量刻度参数和峰形参数，通过蒙特卡罗方法模拟得到所述放射源运输容器的γ模拟谱。