[发明专利]固定装置及光器件检测设备在审
申请号: | 201910307974.7 | 申请日: | 2019-04-16 |
公开(公告)号: | CN109926952A | 公开(公告)日: | 2019-06-25 |
发明(设计)人: | 庄礼杰;谢小飞 | 申请(专利权)人: | 深圳市亚派光电器件有限公司 |
主分类号: | B25B11/00 | 分类号: | B25B11/00;G01N21/01;G01N21/00 |
代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 胡海国 |
地址: | 518101 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 高度调节组件 水平调节组件 光纤法兰盘 固定基体 固定装置 安装孔 半导体激光器 检测设备 光器件 光纤对准 检测结果 准确率 光纤 检测 | ||
本发明公开一种固定装置和光器件检测设备,其中,固定装置包括固定基体、高度调节组件和水平调节组件,所述固定基体用于安装光纤法兰盘,所述光纤法兰盘用于安装光纤,所述高度调节组件和所述水平调节组件设置在所述固定基体上;所述高度调节组件上设有用于安装所述半导体激光器的安装孔;所述高度调节组件设于所述水平调节组件上,所述水平调节组件用于调整所述高度调节组件的水平方向,以调整所述安装孔的水平方向;所述高度调节组件用于调整所述安装孔的高度方向,以使所述半导体激光器与固定于所述光纤法兰盘的光纤对准。本发明技术方案提高检测效率和提升检测结果的准确率。
技术领域
本发明涉及光器件检测设备技术领域,特别涉及一种固定装置及光器件 检测设备。
背景技术
在检查TO(Transistor Outline)同轴封装的半导体激光器的光谱时,目前 主要是人工手持着半导体激光器,半导体激光器与光纤端面进行同轴耦合, 半导体激光器发出的激光在光纤内传输,光纤将激光传输至光谱测试仪,以 便测试半导体激光器的发光光谱;但人工手持半导体激光器不容易与光纤端 面对准,进而导致检测效率低下和检测结果不准确。
发明内容
本发明的主要目的是提供一种固定装置及发光器件检测设备,旨在提高 检测效率和提升检测结果的准确率。
为实现上述目的,本发明提出的一种固定装置包括固定基体、高度调节 组件和水平调节组件,所述固定基体用于安装光纤法兰盘,所述光纤法兰盘 用于安装光纤,所述高度调节组件和所述水平调节组件设置在所述固定基体 上;所述高度调节组件上设有用于安装所述半导体激光器的安装孔;所述高 度调节组件设于所述水平调节组件上,所述水平调节组件用于调整所述高度 调节组件的水平方向,以调整所述安装孔的水平方向;所述高度调节组件用 于调整所述安装孔的高度方向,以使所述半导体激光器与固定于所述光纤法 兰盘的光纤对准。
优选地,所述水平调节组件包括水平调节移动块、水平调节弹簧和水平 调节丝杆,所述水平调节移动块的一侧面上设有第一安装沉孔,所述水平调 节弹簧穿设在所述第一安装沉孔中,且所述水平调节弹簧抵接在所述水平调 节移动块与所述固定基体之间;所述水平调节丝杆穿过所述固定基体与所述 水平调节移动块接触连接。
优选地,所述高度调节组件包括高度调节移动块、高度调节连接柱、高 度调节弹簧和高度调节丝杆,所述高度调节移动块上设有所述安装孔和所述 第一穿孔,且所述安装孔的延伸方向呈水平设置,所述第一穿孔的延伸方向 呈竖直设置;所述高度调节连接柱穿设在所述第一穿孔中,所述高度调节连 接柱与所述水平调节移动块连接,所述高度调节弹簧套设在所述高度调节连 接柱上,且所述高度调节弹簧抵接在所述高度调节移动块和所述水平调节移 动块之间,所述高度调节丝杆穿过所述固定基体与所述高度调节移动块接触 连接。
优选地,所述水平调节移动块朝向所述高度调节弹簧的一面设有第二安 装沉孔,所述高度调节连接柱装设于所述第二安装沉孔。
优选地,所述固定基体上设有高度调节孔,所述高度调节丝杆螺纹连接 于所述高度调节孔中,且所述高度调节丝杆与所述高度调节移动块连接;
和/或,所述固定基体上还设有水平调节孔,所述水平调节丝杆螺纹连接 于所述水平调节孔中,且所述水平调节丝杆与所述水平调节移动块连接。
优选地,所述固定基体包括底座和与所述底座装配连接的上压件,所述 底座和所述上压件装配形成有调节腔。
优选地,所述底座上设有水平调节导向槽,所述水平调节组件上设有与 所述水平调节导向槽对应设置的导向块;所述导向块装设于所述水平调节导 向槽中,以使所述水平调节组件活动限位于所述底座上。
优选地,所述底座上还设有光纤法兰盘导向槽,在所述光纤法兰盘沿所 述光纤法兰盘导向槽装设于所述底座后,以使所述半导体激光器与固定于所 述光纤法兰盘的光纤对准。
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