[发明专利]触摸感测装置在审

专利信息
申请号: 201910308647.3 申请日: 2019-04-17
公开(公告)号: CN110389680A 公开(公告)日: 2019-10-29
发明(设计)人: 孙知德 申请(专利权)人: 硅工厂股份有限公司
主分类号: G06F3/041 分类号: G06F3/041
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 杨文娟;臧建明
地址: 韩国大田广域*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 电极 感测 缺陷性 触摸感测 配置 第二处理器 第一处理器 存储单元 存储指示 缺陷确定 外部对象 触摸 邻近 安置
【权利要求书】:

1.一种触摸感测装置,包括:

第一处理器,配置成识别在不存在触摸或外部对象不接近面板的状态下在安置于所述面板上的多个电极的第一感测值当中满足缺陷确定条件的缺陷性感测值;

存储单元,配置成存储指示在所述多个电极当中对应于所述缺陷性感测值的缺陷性电极的信息;以及

第二处理器,配置成使用邻近于所述缺陷性电极的至少一个电极的感测值来校正在所述多个电极的第二感测值当中对应于所述缺陷性电极的感测值,

其中所述多个电极的所述第二感测值是当存在触摸或所述外部对象接近所述面板时的感测值。

2.根据权利要求1所述的触摸感测装置,其中所述第一处理器在操作开始时识别所述缺陷性感测值。

3.根据权利要求1所述的触摸感测装置,其中所述第一处理器在操作开始时使用从驱动电路接收的原始感测值来产生所述第一感测值,且在操作时间期间识别当所述原始感测值与所述第一感测值之间的差值是特定值或小于所述特定值时的所述缺陷性感测值。

4.根据权利要求3所述的触摸感测装置,其中在所述操作时间期间,当所述原始感测值与所述第一感测值之间的所述差值是所述特定值或小于所述特定值时,所述第一处理器通过对从多个帧获得的所述原始感测值取平均来更新所述第一感测值。

5.根据权利要求1所述的触摸感测装置,其中当所述第二感测值当中的至少一个感测值满足触摸确定条件时,所述第二处理器校正对应于所述缺陷性电极的所述感测值。

6.根据权利要求1所述的触摸感测装置,其中所述第一处理器通过对从多个帧获得的各别电极的感测值取平均来产生所述第一感测值。

7.根据权利要求1所述的触摸感测装置,其中所述第一处理器从所述第一感测值当中选择代表性感测值,且将所述第一感测值当中与所述代表性感测值的平均值相差特定值或相差大于所述特定值的感测值识别作为所述缺陷性感测值。

8.根据权利要求1所述的触摸感测装置,其中当多个所述缺陷性电极在第一方向上彼此相邻时,所述第二处理器用在垂直于所述第一方向的第二方向上的两个相邻电极的感测值的平均值来替换每一缺陷性电极的所述感测值。

9.根据权利要求1所述的触摸感测装置,其中当所述缺陷性电极安置于所述多个电极的边缘处时,所述第二处理器用与所述边缘平行的两个相邻电极的感测值的平均值来替换所述缺陷性电极的所述感测值。

10.根据权利要求1所述的触摸感测装置,其中当所述缺陷性电极安置于所述多个电极的拐角中时,所述第二处理器用第一方向和第二方向上的两个相邻电极的感测值的平均值来替换所述缺陷性电极的所述感测值。

11.一种触摸感测装置,包括:

存储器,配置成存储指示安置于面板上的多个电极当中的缺陷性电极的信息;

校正处理器,配置成使用邻近于所述缺陷性电极的至少一个电极的感测值来校正在所述多个电极的感测值当中对应于所述缺陷性电极的感测值;以及

坐标计算器,配置成使用经校正的所述感测值来计算触摸坐标,

其中所述校正处理器和所述坐标计算器安置于集成电路中。

12.根据权利要求11所述的触摸感测装置,其中当存在邻近于所述缺陷性电极的上部、下部、右方以及左方的四个电极时,所述校正处理器用通过将所述四个电极的感测值代入到b样条等式中所获得的值替换所述缺陷性电极的所述感测值。

13.根据权利要求11所述的触摸感测装置,其中当所述缺陷性电极安置于所述多个电极的边缘处时,所述校正处理器用通过将与所述边缘平行的四个相邻电极的感测值代入到双三次等式中所获得的值替换所述缺陷性电极的所述感测值。

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