[发明专利]测距装置以及测距模块

说明书

本发明提供测距装置以及测距模块，结构简单且能够使发光元件与受光元件一体化。具有发光元件的发光基板经由第一凸块与电路基板连接，具有单体或二维状配置的受光元件的受光基板经由第二凸块与电路基板连接。透镜的光轴、发光元件的光轴以及受光元件的中心轴配置在大致同轴上。本技术能够应用于进行测距的测距装置等。

技术领域

本发明涉及测距装置以及测距模块。

背景技术

例如在日本专利第5659903号中记载了将光源、受光部以及透镜一体形成在同轴上的结构的发光元件/受光元件组装体。

专利文献1：日本专利第5659903号

根据专利第5659903号所公开的技术，需要在受光部设置开口，难以制造受光元件。此外，并未记载对多个发光元件进行模块化的技术，无法向大范围照射光来进行测距。

发明内容

因而，本发明的目的在于提供一种结构简单且发光元件与受光元件一体化的测距装置以及测距模块。

本发明的测距装置具备：透镜；电路基板；发光基板，具有发光元件；以及受光基板，具有单体或者二维状配置的受光元件，所述发光基板经由第一凸块与所述电路基板连接，所述受光基板经由第二凸块与所述电路基板连接，所述透镜的光轴、所述发光元件的光轴以及所述受光元件的中心轴配置在大致同轴上。

本发明的测距模块是具有本技术的测距装置的测距模块。

在本技术的测距装置以及测距模块中，具有发光元件的所述发光基板经由第一凸块与所述电路基板连接，具有单体或二维状配置的受光元件的所述受光基板经由第二凸块与所述电路基板连接。并且，所述透镜的光轴、所述发光元件的光轴以及所述受光元件的中心轴配置在大致同轴上。

根据本发明，结构简单且能够使发光元件与受光元件一体化。

另外，并不是一定限定于此处记载的效果，也可以是本发明中记载的任一效果。

附图说明

图1是表示应用了本技术的测距装置的结构例的剖视图。

图2是表示应用了本技术的测距装置的构成部件的外观图。

图3是表示应用了本技术的测距模块的结构例的俯视图。

图4是表示应用了本技术的测距模块的组装例的图。

图5是表示应用了本技术的测距模块的结构例的剖视图。

图6是表示应用了本技术的测距装置的结构例中的、使用两个透镜的结构例的剖视图。

图7是表示应用了本技术的测距模块的应用例的图。

图8是表示电路基板13的具体结构例的剖视图。

图9是表示发光基板11的第一具体结构例的俯视图。

图10是表示发光基板11的第二具体结构例的俯视图。

图11是表示在透明基板14的上方设置有透镜的测距装置10的结构例的剖视图。

图12是表示三个透镜结构的测距装置10的结构例的剖视图。

图13是表示三个透镜结构的测距装置10的另一结构例的剖视图。

图14是表示三个透镜结构的测距装置10的又一结构例的剖视图。

附图标记说明：