[发明专利]SMART信息测试方法、装置、计算机设备及存储介质

权利要求书

1.SMART信息测试方法，其特征在于，包括：

设置变量以及脚本运行环境；

获取NVME协议中的512个字节的SMART信息；

将SMART信息分配至数组内；

对数组内的SMART信息每个字节的各位进行逐一分析，以得到分析结果；

将分析结果进行汇总；

总结脚本运行情况；

所述对数组内的SMART信息每个字节的各位进行逐一分析，以得到分析结果，包括：

依据对数组内的SMART信息每个字节进行测试警告标志值、测试警告标志值ID、测试通过标志值、测试通过标志值ID、测试失败标志值以及测试失败标志值ID的分析，以得到分析结果；

判断数组内的第一字节的第一位是否为1；若是，则对测试警告标志值加一；测试警告标志值ID设置为一；输出可用空间低于阈值的警告通知，并进入设置第二变量的第一个值为数组内第一字节的第一位取16进制的高位；若否，则对测试通过标志值加一；测试通过标志值ID设置为二；输出可用空间处于正常值的通知，并进入所述设置第二变量的第一个值为数组内第一字节的第一位取16进制的高位；设置第二变量的第一个值为数组内第一字节的第一位取16进制的高位；设置第二变量的第二个值为数组内第一字节的第一位取16进制的低位；对第二变量的第一个值以及第二变量的第二个值进行十进制数值转换，以得到第一数值；输出第一数值；

判断数组内的第一字节的第二位是否为1；若是，则对测试警告标志值加一；测试警告标志值ID设置为二；输出当前温度超出最高温度的阈值或者低于最低温度阈值的警告通知；若否，则对测试通过标志值加一；测试通过标志值ID设置为三；输出当前温度处于正常值的通知；

判断数组内的第一字节的第三位是否为1；若是，则对测试警告标志值加一；测试警告标志值ID设置为三；输出由于媒体相关的重大错误或任何降低NVM子系统可靠性的内部错误，NVM子系统的可靠性已经降低的警告通知；若否，则对测试通过标志值加一；测试通过标志值ID设置为四；输出NVME子系统可靠性处于正常状态的通知；

判断数组内的第一字节的第四位是否为1；若是，则对测试警告标志值加一；测试警告标志值ID设置为四；输出SSD仅处于可读模式的警告通知；若否，则对测试通过标志值加一；测试通过标志值ID设置为五；输出SSD处于可读可写模式的通知；

判断数组内的第一字节的第五位是否为1；若是，则对测试警告标志值加一；测试警告标志值ID设置为五；输出易失性内存备份设备已失效的警告通知；若否，则对测试通过标志值加一；测试通过标志值ID设置为六；输出易失性内存备份设备正常，或控制器没有易失性内存备份解决方案的通知；

对于数组内的第二字节与第一字节的判断方式一致；

当名称空间为0FFFFFFFFh，且数据的特征ID为10h时，打印Get feature的返回值，若该返回值为空，则输出此SSD不支持DITT的警告通知；若该返回值不为空，则输出此SSD支持DITT的警告通知；当数据的特征ID为0d4h，打印初始DITT值，并且打印高温值以及低温值。

2.根据权利要求1所述的SMART信息测试方法，其特征在于，所述获取NVME协议中的512个字节的SMART信息，包括：

设置预填数值为空的缓冲区；

判断缓冲区的名称空间ID是否为设定值；

若是，则获取需要读取的SMART信息在NVME协议内的位置信息，以得到目标位置信息；

根据目标位置信息从NVME协议内读取SMART信息的字节，以得到读取结果；

判断所述读取结果是否为成功；

若是，则将读取结果的字节存放在缓冲区内；

将测试通过标志值加一；

设置测试通过标志值的ID为一，并进入所述判断所述读取结果内的字节是否为SMART信息的第512个字节；

若否，则将测试失败标志值加一；

设置测试失败标志值ID为一， 并进入所述判断所述读取结果内的字节是否为SMART信息的第512个字节；

判断所述读取结果内的字节是否为SMART信息的第512个字节；

若是，则将所述缓冲区内的字节组合形成SMART信息，并进入所述将SMART信息分配至数组内；

若否，则根据读取结果内的字节读取NVME协议内相邻的字节，以得到读取结果，并返回所述判断所述读取结果是否为成功。