[发明专利]一种存储设备的测试方法和装置以及设备

说明书

本发明公开了一种存储设备的测试方法和装置以及设备。其中，所述方法包括：获取存储设备的设备信息，和根据该获取的存储设备的设备信息，设置存储设备的测试目标，其中，该存储设备的测试目标是存储设备的盘符编号，和根据该设置的存储设备的测试目标，由一个总软件引导启用设定的测试软件与工具，开启计划的测试项目与流程，以及根据该开启的计划的测试项目与流程，由一个总软件引导启用设定的测试软件与工具对存储设备进行测试，获取存储设备的窗口内所有控件句柄，得到对存储设备的测试结果。通过上述方式，能够实现简化对存储设备进行测试的测试流程，和能够避免人工方式自动对存储设备进行测试，提高测试效率，测试结果准确率高。

技术领域

本发明涉及存储技术领域，尤其涉及一种存储设备的测试方法和装置以及设备。

背景技术

存储设备是用于储存信息的设备，通常是将信息数字化后再以利用电、磁或光学等方式的媒体加以存储。

存储设备在生成出来之后，一般要经历2个流程：量产与测试。量产，即量产软件通过主控芯片发送命令，对存储晶圆进行物理数据写读校验，得出物理好块与坏块，然后对好的物理数据块进行统计与整理，得出整理之后的逻辑数据存储块的过程。测试，即对量产之后的逻辑存储单元进行数据，格式，属性，存储方式，写入读取方式等进行全方位的测试过程，从而得出该存储设备对不同的数据存储写读流程与方式，属性等性能。

那么，在存储设备的测试的过程中，针对不同的测试项目与测试需求，就需要采用特定测试项目的测试软件来进行测试。

目前，用于对存储设备进行测试的测试软件非常多，都是针对存储设备的测试项目与流程中的其中一项或其中几项，然而存储设备产品往往需要通过多项测试，为了能在更短的时间内，做完多项测试，就需要把多项测试软件与测试流程进行整合，采用一键测试操作。

但是，发明人发现现有技术中至少存在如下问题：

现有的存储设备的测试方案，一般是把多项测试软件与测试流程进行整合，采用一键测试操作的方式对存储设备进行测试，存储设备的测试项目与流程项目有多项，都需要人工方式一一启用，若人工操作错误例如遗漏测试项目与流程项目，则可能导致存储设备的测试不达标，会延长测试周期，而且存储设备的测试结果都需要人工进行手动记录，时间周期较长。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提出一种存储设备的测试方法和装置以及设备，能够实现简化对存储设备进行测试的测试流程，和能够避免人工方式自动对存储设备进行测试，提高测试效率，测试结果准确率高。

根据本发明的一个方面，提供一种存储设备的测试方法，包括：

获取存储设备的设备信息；其中，所述设备信息包括存储设备的类型信息、存储设备的容量信息；

根据所述获取的存储设备的设备信息，设置存储设备的测试目标；其中，所述存储设备的测试目标是存储设备的盘符编号；

根据所述设置的存储设备的测试目标，由一个总软件引导启用设定的测试软件与工具，开启计划的测试项目与流程；

根据所述开启的计划的测试项目与流程，由一个总软件引导启用设定的测试软件与工具对存储设备进行测试，获取存储设备的窗口内所有控件句柄，得到对存储设备的测试结果。

其中，所述获取存储设备的设备信息，包括：

获取存储设备的实例ID和设备路径信息；

获取存储设备的树形结果，得到全部链接的存储设备和存储设备密钥名称信息；

获取注册表中所有存储设备的存储设备密钥名称和实例ID信息；