[发明专利]缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法有效

专利信息
申请号: 201910317402.7 申请日: 2019-04-19
公开(公告)号: CN110031511B 公开(公告)日: 2022-02-25
发明(设计)人: 梅红伟;涂彦昕;胡伟;刘健犇;刘立帅;王黎明 申请(专利权)人: 清华大学深圳研究生院;中国电力科学研究院有限公司
主分类号: G01N25/72 分类号: G01N25/72
代理公司: 深圳市鼎言知识产权代理有限公司 44311 代理人: 曾昭毅;郑海威
地址: 518055 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 缺陷 检测 装置 系统 方法
【说明书】:

一种缺陷检测装置,用于检测复合绝缘子金具压接处的缺陷,所述缺陷检测装置包括一固定装置、一电磁激励源、一红外热像采集仪、一电磁屏蔽罩及一放置台,所述固定装置具有一空腔,所述电磁激励源及红外热像采集仪固定在所述空腔内,所述放置台置于所述空腔内,所述固定装置的外部设置所述电磁屏蔽罩,所述电磁激励源用于发射电磁激励信号于所述复合绝缘子金具压接处,所述红外热像采集仪用于采集所述金具压接处的红外热图信息。本发明还提供一种复合绝缘子金具压接处的缺陷检测系统及缺陷检测方法。

技术领域

本发明属于电力设备无损检测技术领域,尤其涉及一种复合绝缘子金具压接处的缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法。

背景技术

复合绝缘子由于其重量轻、运行维护方便、机械强度优、耐污能力强等特点,自20世纪50年代研制成功以来,在我国电力系统中得到了广泛的应用。在实际运行过程中,复合绝缘子处于机械、电气等多重因素的影响,有可能会发生断串等恶劣事故,这种恶劣事故大多数发生在接近或刚好在复合绝缘子端部连接处。

复合绝缘子端部是芯棒、护套与金具的压接处,是电应力、机械应力集中的地方,往往发生断串的复合绝缘子在端部会出现密封不严、护套破损老化等现象。有效检测复合绝缘子端部的压接、密封情况,及时发现压接不合理、密封不严的复合绝缘子,能有效预防一些复合绝缘子断串事故的发生。

目前,国内外对复合绝缘子端部压接界面的检测方法主要有三种。第一种是对复合绝缘子开展机械性能检测分析,这种方法能够有效地检测出端部连接处存在间隙或护套破损老化的复合绝缘子,但该方法采用的是破坏性的试验方法,只能对复合绝缘子进行抽样检测。第二种是陡坡冲击试验,该方法能够检测出绝缘子内部的较大缺陷,但对于较小的缺陷该方法有效性较低。第三种是材料性能的检测分析,通过对复合绝缘子护套的憎水性试验和芯棒的水扩散试验,及时发现材料的老化,其优点是对于材料老化引起的缺陷能够有效地检测出,但无法检测端部接合处的间隙,存在较大局限性。综上所述,现有方法检测效率不高,且对内部较小缺陷的检测存在较大的局限性,也无法很好的反映缺陷位置及大小情况。

发明内容

有鉴于此,有必要提供一种复合绝缘子金具压接处的缺陷检测装置,以解决上述问题。

另外,还有必要提供一种复合绝缘子金具压接处的缺陷检测系统。

另外,还有必要提供一种复合绝缘子金具压接处的缺陷检测方法。

一种缺陷检测装置,用于检测复合绝缘子金具压接处的缺陷,所述缺陷检测装置包括一固定装置、一电磁激励源、一红外热像采集仪、一电磁屏蔽罩及一放置台,所述固定装置具有一空腔,所述电磁激励源及红外热像采集仪固定在所述空腔内,所述放置台置于所述空腔内,所述固定装置的外部设置所述电磁屏蔽罩,所述电磁激励源用于发射电磁激励信号于所述复合绝缘子金具压接处,所述红外热像采集仪用于采集所述金具压接处的红外热图信息。

进一步地,所述红外热像采集仪与放置台的距离可调节。

进一步地,所述固定装置采用非金属材料制成。

进一步地,所述缺陷检测装置还包括一支架,所述支架设置于所述放置台的两端,所述支架呈“V”形、“Y”形或“U”形,所述支架用于支撑复合绝缘子。

进一步地,所述缺陷装置还包括一遮盖物,所述遮盖物设置于所述固定装置的两端,所述遮盖物为不透明的材质组成,所述遮盖物用于将固定装置的空腔遮挡起来,使所述空腔与外界隔离。

一种缺陷检测系统,所述缺陷检测系统包括所述缺陷检测装置及一计算机系统,所述计算机系统用于对所述缺陷检测装置中的所述红外热像采集仪所生成的热图序列进行处理,并以数据和/或图片的形式显示出来。

进一步地,所述缺陷检测系统在检测复合绝缘子金具压接处的缺陷信息后,若复合绝缘子的缺陷信息不完整,所述计算机系统则自动发出重新检测指示,重复检测步骤以确保检测缺陷的完整信息。

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