[发明专利]双边错位差动共焦超大曲率半径测量方法有效
申请号: | 201910318396.7 | 申请日: | 2019-04-19 |
公开(公告)号: | CN110068290B | 公开(公告)日: | 2020-08-11 |
发明(设计)人: | 赵维谦;邱丽荣 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
主分类号: | G01B11/255 | 分类号: | G01B11/255 |
代理公司: | 北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙) 11639 | 代理人: | 邬晓楠 |
地址: | 100081 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 双边 错位 差动 超大 曲率 半径 测量方法 | ||
本发明公开的双边错位差动共焦超大曲率半径测量方法,属于光学精密测量技术领域。本发明在共焦测量系统中,首先在CCD探测的艾丽斑图像上通过软件设置大、小虚拟针孔探测区域并将其探测的两条共焦特性曲线通过相减处理来锐化共焦特性曲线,然后将锐化共焦特性曲线进行双边错位差动相减处理来得到轴向高灵敏的差动共焦特性曲线,其次利用该双边错位差动共焦特性曲线零点与共焦测量系统焦点精确对应所述特性对超大曲率半径测量中各特征位置点进行高精度定焦寻位,进而实现超长焦距的高精度测量。与已有的大曲率半径测量方法相比,本发明具有测量精度高、抗环境干扰能力强和结构简单等优势,在光学精密测量技术领域具有广泛的应用前景。
技术领域
本发明涉及一种双边错位差动共焦超大曲率半径测量方法,属于光学元件参数精密测量技术领域。
背景技术
在光学系统、惯性导航系统、飞机发动机传动系统中,球面元件都是最重要的元件之一。而球面元件的曲率半径是决定元件整体性能最为关键的参数,因此对球面元件的曲率半径进行高精度测量具有重要意义。
针对球面的曲率半径测量,目前已有的测量方法有:球面样板法、球径仪法、自准直法、干涉仪法、刀口仪法、牛顿环法、激光剪切干涉仪法以及莫尔偏析法等。球面样板法和球径仪法属接触测量,测量方法简单,零件不需抛光,但球面样板法只适用于小曲率半径测量,测量精度受样板面形影响较大,并且在接触测量过程中,会因球面磨损和挤压带来测量误差;自准直法属于非接触测量,但零件需要抛光处理,光路调整较复杂,调焦和对准难度较大,会带来测量过程中的系统误差;干涉仪法、刀口仪法、牛顿环法、激光剪切干涉仪法以及莫尔偏析法一般用于大曲率半径的测量。干涉仪法在测量过程中易受温度、气流、振动、噪声等因素的干扰,对测量精度影响较大。
2002年浙江大学提出了一种利用激光偏振干涉体系产生非接触的牛顿环并与CCD图像处理技术相结合的测量方法。该方法通过移动五角棱镜或被测元件并用CCD列阵测得两组干涉牛顿条纹后,通过计算机对两组图像的处理计算得到被测元件表面的曲率半径。该方法可测量的曲率半径为1~25m,具有很宽的测量范围;并且该方法为非接触测量,不会损坏高精度被测元件表面。
2004年美国计量院的Wang Quandou及其工作小组构建了一台超高精度的移相干涉仪XCALIBIR,该干涉仪可以用于测量球面的曲率半径。该方法通过参考球面与被测元件球面产生的移相干涉图像来计算得到被测元件球面的曲率半径。该方法通过对于环境的苛刻控制,补偿十余项误差后,其曲率半径测量精度达到了0.003%。
2006年南京理工大学研究了一种由单幅静态干涉图测量球面曲率半径的方法。该方法针对小曲率半径的球面用林尼克干涉显微镜得到被测球面的静态干涉图,基于阻尼最小二乘法拟合干涉条纹的光强曲线,得到被测小球面面形的多项式表达式,并由此计算出被测件的曲率半径。该方法通过对已知曲率半径的标准微小凸球面样板的测量,得到相对误差为0.093%的测量结果。
同年,Xianyang Cai等人提出了大曲率半径测量的一种新方法,该方法将斐索干涉仪与变焦镜头相结合构成了一套紧凑的测量仪器,同时可以测量具有大曲率半径的凹球面曲率半径和凸球面曲率半径。对于曲率半径为10m的球面,其测量精度为0.04%。
2008年,Wang Quandou在移相干涉仪测量曲率半径的基础上,引入全息技术,用于大曲率半径球面的曲率半径测量。该方法通过在检测光路中引入菲涅尔全息板,压缩光路整体长度,可实现曲率半径大于10m的镜面的高精度检测。
本发明人于2009年提出了一种利用差动共焦原理来对曲率半径进行高精度测量的方法,并申请国家发明专利“差动共焦曲率半径测量方法与装置”。该方法将差动共焦显微原理扩展到曲率半径测量领域,具有测量精度高、抗环境干扰能力强的优点。但是需要同时使用两路探测器,需精确调整两探测器的离焦量,并且会聚透镜数值孔径改变后,原有离焦量可能不再适合,造成定焦精度降低。
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