[发明专利]降低光学指纹识别模组高度的方法在审

专利信息
申请号: 201910318754.4 申请日: 2019-04-19
公开(公告)号: CN111832359A 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 赵立新;杜柯 申请(专利权)人: 格科微电子(上海)有限公司
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 降低 光学 指纹识别 模组 高度 方法
【权利要求书】:

1.一种降低光学指纹识别模组高度的方法,其特征在于,

所述光学指纹识别模组包括准直装置和图像传感器,

所述光学指纹识别模组中去除独立的红外截止滤波元件,以降低光学指纹识别模组的整体高度。

2.如权利要求1所述的降低光学指纹识别模组高度的方法,其特征在于,带有指纹信息的反射光经过准直装置入射到图像传感器感光单元上,所述准直装置的材料具有吸收红外光的特性。

3.如权利要求2所述的降低光学指纹识别模组高度的方法,其特征在于,所述准直装置为具有通孔的硅材料。

4.如权利要求1所述的降低光学指纹识别模组高度的方法,其特征在于,所述图像传感器感光单元的PN结的耗尽区深度小于3μm,以减少感光单元对红外光的吸收。

5.如权利要求1所述的降低光学指纹识别模组高度的方法,其特征在于,所述图像传感器采用N型衬底,以减少红外光引起的噪声串扰。

6.如权利要求1所述的降低光学指纹识别模组高度的方法,其特征在于,所述图像传感器表面具有红外截止滤波镀层或红外截止滤波涂层。

7.如权利要求6所述的降低光学指纹识别模组高度的方法,其特征在于,在所述图像传感器表面形成平坦化的介质层,在平坦化的介质层上形成红外截止滤波镀层。

8.如权利要求7所述的降低光学指纹识别模组高度的方法,其特征在于,通过物理气相沉积的方式形成介质层,通过化学机械研磨的方式平坦化所述介质层。

9.如权利要求7所述的降低光学指纹识别模组高度的方法,其特征在于,所述介质层为二氧化硅层。

10.如权利要求6所述的降低光学指纹识别模组高度的方法,其特征在于,通过旋转喷涂的方式形成所述红外截止滤波涂层。

11.如权利要求6所述的降低光学指纹识别模组高度的方法,其特征在于,所述红外截止滤波涂层为有机涂层。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于格科微电子(上海)有限公司,未经格科微电子(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910318754.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top