[发明专利]横向相减差动共焦镜组间隙测量方法有效

专利信息
申请号: 201910319379.5 申请日: 2019-04-19
公开(公告)号: CN109883342B 公开(公告)日: 2020-02-14
发明(设计)人: 王允;邱丽荣;赵维谦 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01B11/14 分类号: G01B11/14
代理公司: 11639 北京理工正阳知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 邬晓楠
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 特性曲线 镜组 差动共焦 间隙测量 相减 共焦 光学精密测量 锐化 抗环境干扰能力 差动共焦测量 共焦测量系统 测量精度高 高精度测量 补偿计算 顶点位置 光线追迹 软件设置 探测区域 系统焦点 虚拟针孔 被测镜 差动 定焦 寻位 轴向 灵敏 探测 图像 应用
【权利要求书】:

1.横向相减差动共焦镜组间隙测量方法,其特征在于:包括以下步骤,

a)打开点光源(1),点光源(1)发出的光经分束镜(2)、准直透镜(3)和测量物镜(4)后形成测量光束(5)照射在被测镜组(6)上;

b)调整被测镜组(6)使其与测量物镜(4)和准直透镜(3)共光轴,使准直透镜(3)出射的平行光束经测量物镜(4)汇聚成聚焦测量光束(5)聚焦在被测镜组(6)顶点A上,被测镜组(6)顶点反射的聚焦测量光束(5)再经测量物镜(4)和准直透镜(3)后被分束镜(2)反射进入到横向相减差动共焦探测系统(7),测量光束形成焦前测量艾里斑(13)后被焦前CCD探测器(10)探测;

c)沿光轴方向测量物镜(4)使聚焦测量光束(5)的焦点与被测镜组(6)的顶点A位置重合;在被测镜组(6)顶点A位置附近轴向扫描测量物镜(4),将横向相减差动共焦探测系统(7)中焦前大虚拟针孔探测域(14)和焦前小虚拟针孔探测域(15)分别探测的焦前大虚拟针孔探测共焦特性曲线(19)IB1(z,-uM)和焦前小虚拟针孔探测共焦特性曲线(20)IS1(z,-uM)进行相减处理得到半高宽压缩的焦前横向相减锐化共焦特性曲线(21)I1(z,-uM)=IS1(z,-uM)-γIB1(z,-uM),将横向相减差动共焦探测系统(7)中焦后大虚拟针孔探测域(17)和焦后小虚拟针孔探测域(18)分别探测的焦后大虚拟针孔探测共焦特性曲线(22)IB2(z,+uM)和焦后小虚拟针孔探测共焦特性曲线(23)IS2(z,+uM)进行相减处理得到半高宽压缩的焦后横向相减锐化共焦特性曲线(24)I2(z,+uM)=IS2(z,+uM)-γIB2(z,+uM),其中z为轴向坐标,γ为调节因子,uM为焦前CCD探测器(9)偏离焦前显微物镜(8)焦平面的距离M的归一化距离,也是焦后CCD探测器(11)偏离焦后显微物镜(10)焦平面的距离M的归一化距离;将焦后横向相减锐化共焦特性曲线(21)I2(z,+uM)和焦前横向相减锐化共焦特性曲线(24)I1(z,-uM)进行差动相减即得到轴向高灵敏的横向相减差动共焦特性曲线(25)ID(z):

ID(z)=I2(z,+uM)-I1(z,-uM) (1)

通过横向相减差动共焦特性曲线(25)ID(z)的拟合直线零点(28)确定被测镜组(6)的前表面顶点A,进而精确确定被测镜组(6)的前表面顶点A的位置Z1

d)继续沿光轴方向移动测量物镜(4),使聚焦测量光束(5)的焦点与被测镜组(6)的后表面顶点B重合;在该透镜顶点B位置附近轴向扫描测量物镜(4),此时聚焦测量光束(5)被被测镜组(6)后表面顶点位置B原路反射进入横向相减差动共焦探测系统(7)被探测;在该位置附近扫描测量物镜(4),由横向相减差动共焦探测系统(7)测得离散横向相减差动共焦特性曲线(26),主控计算机(30)通过差动共焦线性拟合直线(27)的拟合直线零点(28)精确确定被测镜组(6)的内表面顶点位置B,记录此时聚焦测量光束(5)的焦点位置Z2

e)沿光轴方向移动测量物镜(4),使聚焦测量光束(5)的焦点与被测镜组(6)内各透镜的表面顶点位置,即每个透镜的前表面顶点和后表面顶点重合;在各表面顶点位置测量物镜(4),由横向相减差动共焦探测系统(7)得到离散横向相减差动共焦特性曲线(25)、离散横向相减差动共焦特性曲线(26)、离散横向相减差动共焦特性曲线(38)和离散横向相减差动共焦特性曲线(39),依次通过差动共焦线性拟合直线(27)的拟合直线零点(28)来确定聚焦测量光束(5)精确定焦在被测镜组(6)组内各透镜的表面顶点位置,并将顶点位置依次记为Z1、Z1、Z2、…和Zm,m为被测镜组(6)组内透镜的总透光面数;

f)根据建立的光线追迹及其补偿模型,依次计算得到被测镜组(6)组内第N个表面SN与第N+1个表面SN+1之间的轴向间隙dN=lN′。

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