[发明专利]自动测试方法、装置、计算机设备和存储介质

说明书

本申请揭示了一种自动测试方法、装置、计算机设备和存储介质，其中方法包括：提取出每一个测试用例的关键字，并进行归纳得到多个关键字类型；建立与每一个关键字类型对应的分区；将所述测试用例存储到目标分区内，所述目标分区对应的关键字类型与所述测试用例的关键字所对应的关键字类型相同；调用与第一目标分区对应的第一测试框架；控制所述第一测试框架对所述第一目标分区中的全部测试用例进行多线程测试；当第一目标分区测试后，再进行其他分区的测试。本申请在测试大量的测试用例前，先将各测试用例进行分类，便于测试的时候集中对同一类型的测试用例进行测试，有效的提高整体的测试速度。

技术领域

本申请涉及到软件测试技术领域，特别是涉及到一种自动测试方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

目前常见的自动化测试框架大多是单个顺序执行测试用例，首先根据一个测试用例的类型，调用对应的测试框架进行测试。当测试完一个测试用例后，再到数据库中读取下一个测试用例，依上述方法进行测试。但是当对大量的测试用例进行测试时，不同类型的测试用例调用不同的测试框架，当对大量的测试用例进行测试的时候，就需要频繁的调用对应的测试框架，消耗较多的时间，从而导致测试的效率非常低。

发明内容

本申请的主要目的为提供一种自动测试方法、装置、计算机设备和存储介质，旨在解决上述测试大量的测试用例时效率低的问题。

为了实现上述发明目的，本申请提出一种自动测试方法，包括：

读取存储器中所有的测试用例，分别提取出每一个所述测试用例的关键字，所述关键字是表示与测试用例匹配的测试框架的文本；

将全部关键字按照类型进行归纳计算，得到多个关键字类型；

在所述存储器中建立与每一个所述关键字类型对应的分区；

将所述测试用例存储到目标分区内，所述目标分区对应的关键字类型与所述测试用例的关键字所对应的关键字类型相同；

按照预设的规则在多个目标分区中选择第一目标分区，在测试工具中调用与所述第一目标分区对应的目标关键字类型对应的第一测试框架；

控制所述第一测试框架对所述第一目标分区中的全部测试用例进行多线程测试；

当所述第一目标分区中的全部测试用例测试结束后，再次根据所述预设的规则选择第二目标分区，及第二目标分区对应的第二测试框架进行多线程测试，直至测试完所述存储器中的所有测试用例。

进一步地，所述控制所述第一测试框架对所述第一目标分区中的全部测试用例进行多线程测试的步骤，包括：

开启多个进程；

控制测试框架在每一个进程中执行所述第一目标分区中的一个测试用例；

当任一个所述进程执行完成一个所述测试用例后，读取所述第一目标分区中的一个未测试的测试用例进行测试。

进一步地，所述将所述测试用例存储到目标分区内的步骤，包括：

在每个所述分区中各设置一个队列；

根据每一个所述测试用例的关键字对应的关键字类型，查找到对应的目标分区，并按照预设的顺序依次放入目标分区的队列中。

进一步地，所述开启多个进程的步骤，包括：

获取所述第一测试框架的类型；

根据测试框架的类型与进程数量的对应关系，获取与所述第一测试框架对应的进程数量M，其中，所述M为正整数；

开启与所述M个进程。

进一步地，所述开启所述M个进程的步骤，包括：