[发明专利]一种故障诊断方法有效

专利信息
申请号: 201910321411.3 申请日: 2019-04-19
公开(公告)号: CN110059413B 公开(公告)日: 2022-11-15
发明(设计)人: 徐国靖;池程芝;王雪 申请(专利权)人: 中国航空无线电电子研究所
主分类号: G06N7/00 分类号: G06N7/00;G06N7/02;G06K9/62
代理公司: 中国航空专利中心 11008 代理人: 王世磊
地址: 200233 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 故障诊断 方法
【权利要求书】:

1.一种故障诊断方法,其特征在于,所述方法包括:

输入故障样本数据;

根据所述故障样本数据的属性和故障建立高斯模糊数模型;

输入待测样本数据;

利用单值中智集生成规则,根据高斯模糊数模型和待测样本数据,生成各种属性和各种故障的中智集;

对不同属性且同种故障的中智集融合;

利用Topsis方法将各种故障的中智集转换为可比较大小的关联值;

根据每种故障的关联值,对判断设备故障种类;

对所述故障样本数据建立高斯模糊数模型,具体包括:

将样本数据Dij的均值和标准差分别作为故障Fi属性j高斯模糊数模型的均值和标准差;

所述输入待测样本数据,具体包括:

输入待测设备属性j下的待测样本数据Tj,所述待测样本与每一故障的相关程度可用中智集进行表示,属性j下故障i的中智集具体表示为Aij=[T(x),I(x),F(x)],(i=1,2,…,n,j=1,2,…,k),

其中,T(x)表示对事件x的信任程度,I(x)表示对于事件x的不确定度,F(x)表示对于事件x的否定程度,三者的取值范围满足T(x),I(x),F(x)∈[0,1];

利用单值中智集生成规则根据高斯模糊数模型和待测样本数据,生成每种故障每种属性的中智集,具体包括:

待测样本数据可表示为一条垂直于x轴的直线,在属性j下待测样本与n种故障的高斯模糊数有n个交点,交点的y轴值的大小为故障T(x)的大小,F(x)的大小可以表示为F(x)=1-T(x),I(x)大小为除与该故障交点以外的交点的最大值;

对不同属性且同种故障的中智集融合,具体包括:

将不同属性的相同故障的中智集相加求平均,即

融合后得到n种故障k种属性下的平均中智集共n组。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述输入故障样本,具体包括:

输入n种故障、k种属性的故障样本数据Dij(i=1,2,…,n,j=1,2,…,k)。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:所述利用Topsis方法将n种故障的中智集转换为可比较大小的关联值,具体包括:

通过公式将n种故障的中智集转换为可比较大小的数值,D(x)的大小表明了对事件x本次发生与该事件一定发生的关联度,D(x)∈[0,1],D(x)值越小表明x本次发生的概率大,D(x)值越大表明事件x本次发生的概率较小,通过转换共得到n个数值。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于:根据每种故障的关联值对设备具体属于某种故障做出判断,具体包括:

根据每种故障的关联值对设备具体属于某种故障做出判断,故障关联值越小的本次发生的概率大,因而做出设备的故障诊断。

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