[发明专利]一种基于PP波反射系数能谱的薄层厚度预测方法

权利要求书

1.一种基于PP波反射系数能谱的薄层厚度预测方法，其特征在于，包括如下步骤：

S1、获取薄层反射系数能谱；

S2、利用所述薄层反射系数能谱求取对频率的一阶及三阶导数：

(R²(f))′＝-4A₁A₂πΔtsin(2πfΔt) (1)；

(R²(f))″′＝16A₁A₂π³(Δt)³sin(2πfΔt) (2)；

其中，

A₁＝R₁

V_Pa1＝(V_P2+V_P1)/2；ΔV_P1＝V_P2-V_P1；

ρ_a1＝(ρ₂+ρ₁)/2；Δρ₁＝ρ₂-ρ₁；

V_Pa2＝(V_P3+V_P2)/2；ΔV_P2＝V_P3-V_P2；

ρ_a2＝(ρ₃+ρ₂)/2；Δρ₂＝ρ₃-ρ₂； (6)；

R₁、R₂分别是顶界面和底界面的PP波反射系数，Δt为薄层的时间厚度，V_pi、ρ_i，i＝1,2,3，分别为薄层模型各层i的纵波速度和密度，f为频率；

S3、利用步骤S2中求取的对频率的一阶及三阶导数获取薄层时间厚度如下：

S4、将步骤S3得到的薄层时间厚度计算公式转换到深度域得到薄层厚度如下：

2.根据权利要求1所述的基于PP波反射系数能谱的薄层厚度预测方法，其特征在于，步骤S1中，对实际地震数据进行反褶积运算得到薄层复反射系数，并利用薄层复反射系数便可得到薄层反射系数能谱。