[发明专利]一种降低碎米率的精制大米加工方法在审
申请号: | 201910323675.2 | 申请日: | 2019-04-22 |
公开(公告)号: | CN109999943A | 公开(公告)日: | 2019-07-12 |
发明(设计)人: | 高小荣;高春;李友一;高杨;张云栋;胡焦;刘成;杨磊;卢萍 | 申请(专利权)人: | 安徽捷迅光电技术有限公司 |
主分类号: | B02B5/02 | 分类号: | B02B5/02;B02B1/02;B02B7/00 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 沈尚林 |
地址: | 230000 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 大米加工 碎米率 精制 大米加工工艺 简化生产工艺 自动化水平 白米分级 糙米精选 厂房空间 大米生产 谷糙分离 白米 抛光 工艺流程 传统色 光泽度 去石 砻谷 稻谷 精选 筛选 升级 改进 | ||
本发明公开了一种降低碎米率的精制大米加工方法,所述方法包括以下步骤:稻谷筛选、去石、砻谷、谷糙分离、糙米精选、多级轻碾、白米分级抛光、白米精选。该降低碎米率的精制大米加工方法通过对传统精制大米加工方法的改进和对传统色选机的升级,改变大米生产工艺流程,降低成品碎米率,提高成品光泽度,简化生产工艺,节省厂房空间,提高大米加工工艺自动化水平的目的。
技术领域
本发明涉及一种大米加工方法,具体涉及一种降低碎米率的精制大米加工方法。
背景技术
稻谷是中国和东亚,东南亚的第一大粮食品种,并且米制品具有独特的芳香风味和易于消化的特点,因此大米及其制品具有最广泛的消费对象、巨大的发展潜力和广阔的市场,对其研究开发有很大的社会效益和经济效益,其加工方法随科技的进步一直在不断完善和提高。目前的精制大米在加工过程中,物料须经多次机械摩擦程序后才能成为成品,导致碎米比率比较高,大米的光泽度不佳,影响米饭口感和色泽。
发明内容
本发明的目的在于提供一种降低碎米率的精制大米加工方法,其可以降低成品碎米率,提高成品光泽度,简化生产工艺,节省厂房空间,提高大米加工工艺自动化水平。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:
一种降低碎米率的精制大米加工方法,所述方法包括以下步骤:
(1)稻谷筛选:先采用滚筒筛和振动筛,去除稻谷中的杂草和枝叶,然后采用风选法清除稻谷中的灰尘等轻杂质;
(2)去石:采用去石机去除稻谷中的石块;
(3)砻谷:通过砻谷机去除稻谷壳;
(4)谷糙分离:采用谷糙分离机将糙米与未脱壳的稻谷分离开,分离率>99%;
(5)糙米精选:采用厚度分级机对糙米进行厚度分级;
(6)多级轻碾:采用碾米机进行多级轻碾;
(7)白米分级抛光:采用白米分离筛将完整粒与不完整粒分离,然后利用抛光机对白米进行多级抛光;
(8)白米精选:利用色选机对步骤(7)得到的白米进行长度和颜色的精选分级,然后包装入库。
优选地,所述步骤(3)中,砻谷时,砻骨机胶棍的间隙不超过1.5mm,脱壳率>87%。
优选地,所述步骤(8)中,所述色选机包括进料模块、物料导引模块、光学检测模块、光学成像模块、图像处理模块、控制模块,所述进料模块用于向颗粒导引装置传送物料,所述物料导引模块用于导引物料到检测区,所述光学检测模块用于对检测区的物料进行光照、光学检测,所述光学检测模块中的光源包括前照明光源和背光光源,所述光学成像模块对被照明的物料和背景进行成像,所述图像处理模块用于处理光学成像模块传输的图像信号,由图像处理算法介入进行图像处理,得到喷阀控制信号,进而通过气动喷阀驱动器对喷阀进行开启,实现对目标物料的分选。
优选地,所述图像处理模块采用嵌入式处理电路模块。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
本发明通过对传统精制大米加工方法的改进和对传统色选机的升级,改变大米生产工艺流程,降低成品碎米率,提高成品光泽度,简化生产工艺,节省厂房空间,提高大米加工工艺自动化水平的目的。
附图说明
图1是本发明实施例中图像处理模块对图像处理的框架图;
图2是本发明实施例中前照明光源和背光光源的光源方向示意图;
图3是本发明实施例中图像处理算法的示意图;
图中,1、背光光源,2、物料,3、前照明光源。
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