[发明专利]一种自动磨片装置在审
申请号: | 201910329018.9 | 申请日: | 2019-04-23 |
公开(公告)号: | CN111823083A | 公开(公告)日: | 2020-10-27 |
发明(设计)人: | 芮晓庆;俞凌杰;周圆圆;范明 | 申请(专利权)人: | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院 |
主分类号: | B24B7/22 | 分类号: | B24B7/22;B24B41/00;B24B41/06;B24B47/22;B24B47/20 |
代理公司: | 北京思创毕升专利事务所 11218 | 代理人: | 孙向民;廉莉莉 |
地址: | 100027 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 自动 装置 | ||
本发明公开了一种自动磨片装置,包括:旋转驱动模块,旋转驱动模块设有驱动轴;固定盘,固定盘与驱动轴连接,固定盘用于放置岩石样品;加压装置,加压装置与驱动轴连接,加压装置包括多个顶杆,顶杆用于从岩石样品的第一表面将岩石样品固定于固定盘内;多个调压模块,每个调压模块套接于一个顶杆外部,调压模块用于调节施加于岩石样品的第一表面的压力。本发明的自动磨片装置在批量磨制过程中通过调压模块,根据岩石样品的软硬硬度调节磨制压力,在一次加工过程中可对不同软硬程度的岩石样品同时进行批量磨制,提高抛磨工作效率和抛磨质量。
技术领域
本发明属于油气勘探领域,具体涉及一种自动磨片装置。
背景技术
80年代以来,有机岩石学应用于油气地质研究领域,成效卓著,全岩分析方法脱颖而出(李贤庆,1996)。它以全岩为分析对象,以荧光和反射光相结合的方式进行研究,能够深入研究烃源岩中各种显微组分,从成因、演化、数量、质量等方面的差异来评价烃源岩,是烃源岩评价研究中不可或缺的手段。
要进行全岩有机岩石学分析,就必须有能用于微观观察的样品——全岩光片,光片质量的好坏直接影响观测结果。制备全岩光片要经过碎样、粘合固化、研磨(粗磨和精磨)、抛光四个步骤,每个步骤的操作都须严格、细心,而光片最终质量是由研磨和抛光决定的(沈桂琴,1992)。
传统的手工磨抛,压力的控制全凭人工经验,控制力度不均一,磨面易造成弧形或者擦痕,得不到平整光滑的镜面,且一次只能磨一个,效率低,费时费力(周学鹰,1999)。为进一步提高工作效率,逐渐使用自动磨抛机进行操作,从粗磨到最后精抛整个过程全自动完成。操作过程全自动化模式,压力、转速均可调节,节省人工提高工作效率(王会强,2007)。虽然磨抛机可以设定压力,但是在批量磨制过程中不能根据每个样品的软硬程度调节压力,在同一压力下会造成软相样品(黏土含量高)脱落,硬相样品(灰岩、硅质岩)浮凸等现象。在生产测试中接触到的全岩样品岩性多种多样,甚至同一批次岩性都有差别,因此,特别需要一种根据样品硬度调节压力的自动膜片装置,在一次加工过程中对不同软硬程度的样品同时进行批量磨制,提高抛磨工作效率和抛磨质量。
发明内容
本发明的目的是在一次加工过程中对不同软硬程度的样品同时进行批量磨制,提高抛磨工作效率和抛磨质量。
为了实现上述目的,本发明提供一种自动磨片装置,包括:旋转驱动模块,所述旋转驱动模块设有驱动轴;固定盘,所述固定盘与所述驱动轴连接,所述固定盘用于放置岩石样品;加压装置,所述加压装置与所述驱动轴连接,所述加压装置包括多个顶杆,所述顶杆用于从所述岩石样品的第一表面将所述岩石样品固定于所述固定盘内;多个调压模块,每个调压模块套接于一个所述顶杆外部,所述调压模块用于调节施加于所述岩石样品的所述第一表面的压力。
优选的,所述调压模块包括可调卡箍和弹簧,所述可调卡箍可滑动地套接于所述顶杆外部,所述弹簧的一端连接于所述可调卡箍,另一端用于向所述岩石样品的所述第一表面施加压力。
优选的,根据所述岩石样品的磨制压力和所述弹簧的弹性系数确定所述可调卡箍在所述顶杆上的位置:
其中,H表示可调卡箍与顶杆末端之间的距离,H0表示弹簧的初始长度,Q表示加压装置的预设磨制压力,P表示岩石样品所需的磨制压力,K表示弹簧的弹性系数。
优选的,根据所述岩石样品的磨制压力和所述可调卡箍在所述顶杆上的位置确定所述弹簧的弹性系数:
其中,K表示弹簧的弹性系数,H表示可调卡箍与顶杆末端之间的距离,H0表示弹簧的初始长度,Q表示加压装置的预设磨制压力,P表示岩石样品所需的的磨制压力。
优选的,所述顶杆的末端设有锥形压头。
优选的,所述固定盘上设有多个通孔,所述通孔用于放置所述岩石样品,且所述固定盘上设有连接孔,所述连接孔与所述驱动轴固定连接。
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