[发明专利]用于监视二次电力设备的方法、装置以及电子系统在审

专利信息
申请号: 201910329968.1 申请日: 2019-04-23
公开(公告)号: CN110858495A 公开(公告)日: 2020-03-03
发明(设计)人: 南锡铉;吉珉成;林亨泽;金相勋 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G11C5/14 分类号: G11C5/14;G01R31/382
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 邵亚丽
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 监视 二次 电力设备 方法 装置 以及 电子 系统
【权利要求书】:

1.一种监视二次电力设备的方法,该方法包括:

通过将电力从充电单元供应到包括至少一个电容器的所述二次电力设备,由从所述充电单元对所述二次电力设备进行充电;

通过使用所述至少一个电容器的电压,由校准单元在第一校准间隔中设置第一参考参数;

通过使用所述至少一个电容器的电压和所述第一参考参数,由所述校准单元在第二校准间隔中设置第二参考参数;

通过使用所述第二参考参数,由电平设置单元设置用于检查所述二次电力设备的状态的参考电平;以及

通过使用所述参考电平,由监视单元来监视所述二次电力设备的状态。

2.如权利要求1所述的方法,其中所述至少一个电容器的电压经由所述充电单元的充电操作在局部最大值和局部最小值之间波动,

其中设置所述第一参考参数包括:

检测所述第一校准间隔中所述至少一个电容器的电压的最大值;

检测所述第一校准间隔中所述至少一个电容器的电压的最小值;以及

将所述最大值和所述最小值的平均值设置为所述第一参考参数。

3.如权利要求2所述的方法,其中设置所述第二参考参数包括:

通过使用所述第一参考参数,在所述第二校准间隔中,将所述至少一个电容器的电压分类为高状态间隔和低状态间隔;

在所述第二校准间隔中,检测所述高状态间隔中的第一局部最大值,并计算作为所述第一局部最大值的平均值的第一平均值;

在所述第二校准间隔中,检测所述低状态间隔中的第一局部最小值,并计算作为所述第一局部最小值的平均值的第二平均值;以及

将所述第一平均值和所述第二平均值的平均值设置为所述第二参考参数。

4.如权利要求3所述的方法,其中设置所述参考电平包括,将关于被设置为所述第二参考参数的中心值的±△的范围设置为所述参考电平。

5.如权利要求4所述的方法,其中△被设置为固定值或者相对于所述第一平均值与所述第二平均值之间的差的百分比(%)。

6.如权利要求1所述的方法,还包括:

通过使用所述参考电平,测量所述至少一个电容器的放电时间;以及

将所述放电时间与设定的参考时间进行比较,以确定所述二次电力设备是否正在异常操作。

7.如权利要求6所述的方法,还包括:

通过测量所述至少一个电容器的多个放电时间并将其求平均,获得平均放电时间;以及

将所述平均放电时间与所述参考时间进行比较,以确定所述二次电力设备是否正在异常操作。

8.如权利要求1所述的方法,其中通过在设定的时段重复执行从设置所述第一参考参数到设置所述参考电平的操作,校准所述参考电平,或者

在重置所述第二参考参数和重置所述参考电平时,通过使用在设置所述第二参考参数之后检测到的所述至少一个电容器的电压,实时地校准所述参考电平。

9.一种监视二次电力设备的方法,该方法包括:

通过将电力从充电单元供应到所述二次电力设备,由从所述充电单元对包括至少一个电容器的所述二次电力设备进行充电;

通过使用所述至少一个电容器的电压,由校准单元在第一校准间隔中设置第一参考参数,其中所述电压在局部最大值和局部最小值之间波动;

通过使用所述至少一个电容器的电压和所述第一参考参数,由所述校准单元在第二校准间隔中设置第二参考参数;

由电平设置单元将参考电平设置为关于被设置为所述第二参考参数的中心值的±△的范围;以及

通过使用所述参考电平,由监视单元来监视所述二次电力设备的状态,

其中从设置所述第一参考参数到设置所述参考电平的操作在设定的时段进行重复。

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