[发明专利]驱动电路检测方法及装置

说明书

公开了一种驱动电路检测方法，所述驱动电路包括多个电路模块，所述多个电路模块分别在故障或异常事件时产生有效的指示信号，所述方法包括：对所述多个电路模块的标识信号进行运算，以获得检测信号；经由通信接口发送检测信号；经由复位端接收根据所述检测信号产生的复位信号；根据所述复位信号重启驱动电路，其中，所述运算包括或运算。本申请提出的驱动电路检测方法，通过检测驱动电路内部各模块的标识信号，并根据检测结果对驱动电路进行重启，有效地解决了ESD干扰导致的非正常状态，实现了驱动电路的自动恢复，提高了驱动电路的抗ESD能力。

技术领域

本发明涉及电子设备检测技术领域，特别涉及一种驱动电路检测方法及装置。

背景技术

ESD(Electro-Static discharge)是指“静电释放”。静电是一种客观的自然现象，不均匀分布在芯片本身、人体上和机器上以及芯片能够存在的环境及周围的事物上。这些静止的电荷，随时都有可能通过某种方式释放出来。静电释放的特点是高电压、低电量、小电流和作用时间短。

芯片在制造过程中，都会受到静电释放的影响。当芯片的外部环境或芯片内部积累的静电荷，通过芯片管脚流入或流出芯片时，会在极短时间内产生峰值电流或电压，对芯片造成严重破坏，如暂时的功能丧失或永久损伤。此外，ESD还可能会吸附灰尘，缩短芯片的寿命，或者产生电磁干扰，影响芯片的正常工作。因此，芯片的ESD检测就成为了芯片研制过程中一项重要的任务。芯片的组成器件非常多，目前较前沿的芯片可包括超过1,000,000,000个器件，占据了大约6000μm×6000μm的芯片面积。

现有技术中提高芯片ESD能力的方法有：增加ESD泄放通路，比如降低接地阻抗；减少ESD进入敏感器件的能量，如增加屏蔽层；增加指令锁(CMD lock)，只有正确输入解锁指令，才能读写寄存器，这样避免ESD将寄存器的状态改变。

但是，这些方法都有缺点，前两种受成本和芯片面积限制，提高ESD能力效果有限，第三种仅对寄存器有效，其他模块不在保护范围内。

发明内容

鉴于上述问题，本发明的目的在于提供一种驱动电路检测方法及装置，在芯片系统中各模块发生非正常状态时，重新启动芯片，从而实现电路的自动恢复，以及提高电路抗ESD干扰的能力。

根据本发明的一方面，提供一种驱动电路检测方法，所述驱动电路包括多个电路模块，所述多个电路模块分别在故障或异常事件时产生有效的标识信号，所述方法包括：

对所述多个电路模块的标识信号进行运算，以获得检测信号；

经由通信接口发送检测信号；

经由复位端接收根据所述检测信号产生的复位信号；

根据所述复位信号重启驱动电路，

其中，所述运算包括或运算。

优选地，所述多个电路模块的标识信号中至少一个信号有效，则检测信号有效。

优选地，所述方法还包括：

在驱动电路内部增加使能信号；

判断所述使能信号的电平高低状态；

当所述使能信号为低电平状态时，将所述检测信号输出为低电平状态。

优选地，所述方法还包括：

判断所述检测信号的电平高低状态；

当所述检测信号为高电平状态时，将寄存器输出为高电平状态。

优选地，所述信号为高电平时有效。

根据本发明的另一方面，提供一种驱动电路检测装置，所述驱动电路包括多个电路模块，所述多个电路模块分别在故障或异常事件时产生有效的标识信号，所述驱动电路检测装置包括：