[发明专利]硬件状态分析方法、装置、计算机设备和存储介质

说明书

本申请涉及一种硬件状态分析方法、装置、计算机设备和存储介质，计算机设备将获取的不同状态下的辐射计数数据输入至预设的神经网络中，可以得到PET系统的硬件状态分析数据，由于该PET系统的硬件状态分析数据用于预测预设工作时长之后的辐射计数数据、初始状态的辐射计数数据和扫描图像的均匀性数据，相当于从多个方面对PET系统的硬件状态进行了分析，有效的综合反映了PET系统硬件状态的情况。

技术领域

本申请涉及医学技术领域，特别是涉及一种硬件状态分析方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

正电子发射型计算机断层显像(Positron Emission Computed Tomography，PET)是核医学领域比较先进的临床检查影像技术。在临床应用中，PET系统的硬件状态需要每天进行监测，以保证采集的影像数据的精确性。

通常对于PET系统的硬件状态进行监测的过程为，每天采集PET系统硬件的辐射计数数据，例如，single、coincidence数据，然后根据该辐射计数数据分析当前PET系统的硬件状态。在实际应用中，PET系统的硬件状态会随着时间的推移产生变化，从而影响到采集的影像数据的精确性，在监测PET系统硬件状态时，需要从全面的因素考虑PET系统硬件状态带来的影响，即仅知道当前PET系统硬件的当前状态是不够的。

因此，目前的PET硬件状态分析方法不能综合的反映PET系统硬件状态的情况。

发明内容

基于此，有必要针对上述目前的PET硬件状态分析方法不能综合的反映PET系统硬件状态的情况的技术问题，提供一种硬件状态分析方法、装置、计算机设备和存储介质。

第一方面，本申请实施例提供一种硬件状态分析方法，该方法包括：

获取PET系统初始状态下的第一辐射计数数据；

获取PET系统工作预设时长后的第二辐射计数数据；

将第一辐射计数数据和第二辐射计数数据输入至预设的神经网络的中，得到PET系统的硬件状态分析数据；所述PET系统的硬件状态分析数据用于预测预设工作时长之后的辐射计数数据、初始状态的辐射计数数据和扫描图像的均匀性数据。

在其中一个实施例中，上述神经网络包括第一子神经网络和第二子神经网络；

则上述将第一辐射计数数据和第二辐射计数数据输入至预设的神经网络的中，得到PET系统的硬件状态分析数据，包括：

将第一辐射计数数据输入至第一子神经网络，得到第一辐射计数数据对应的预设工作时长后的辐射计数数据；

将第二辐射计数数据输入至第一子神经网络，得到第二辐射计数数据对应的标准辐射计数数据；

将第二辐射计数数据输入至第二子神经网络，得到第二辐射计数数据对应的扫描图像的均匀性数据。

在其中一个实施例中，上述方法还包括：

获取PET系统在初始状态下的多个第一样本辐射计数数据和多个工作预设时长后的第二样本辐射计数数据；

将各第一样本辐射计数数据作为输入、各第二样本辐射计数数据作为输出，和将各第二样本辐射计数数据作为输入、各第一样本辐射计数数据作为输出，训练第一子神经网络初始网络模型，得到第一神经网络。

在其中一个实施例中，该方法还包括：

获取PET系统在工作预设时长后的多个第二样本辐射计数数据、和各第二样本辐射计数数据对应扫描图像的均匀性数据；

将各第二样本辐射计数数据作为输入，各第二样本辐射计数数据对应扫描图像的均匀性数据作为输出，训练第二子神经网络初始网络模型，得到第二子神经网络。