[发明专利]校准系统和校准方法

权利要求书

1.一种校准系统，其具有：

探针天线(12，26)，其在具有多个天线元件(T1～TN)的被测量天线的近场区域的规定的测量平面内设定的多个测量位置处，接收无线信号；

振幅相位测量单元(17)，其测量通过所述探针天线接收到的无线信号的振幅和相位；以及

反投影处理单元(18)，其基于通过所述振幅相位测量单元测量到的振幅和相位，计算所述被测量天线的电磁波辐射面(100a)中的无线信号的振幅分布和相位分布，

在所述校准系统中，进一步具有：

天线控制单元(16)，其从所述多个天线元件(T1～TN)之中选择并激励一组天线元件后，选择并激励与所述一组天线元件不同的一组天线元件，

所述探针天线接收从各所述一组天线元件发送的无线信号，

所述反投影处理单元计算从各所述一组天线元件发送的无线信号的振幅分布和相位分布，

在所述校准系统中，进一步具有：

振幅相位提取单元(19)，其根据通过所述反投影处理单元计算出的振幅分布和相位分布，提取所述电磁波辐射面中的各所述一组天线元件的位置所对应的振幅和相位的值；以及

第1相位计算单元(20)，其根据通过所述振幅相位提取单元提取出的相位的值，计算所述电磁波辐射面中的所述多个天线元件各自的位置所对应的相位。

2.根据权利要求1所述的校准系统，其特征在于，

所述探针天线由包含第1探针、在所述测量平面内的水平方向上隔着所述第1探针而配置的第2探针和第3探针、第4探针、以及在所述测量平面内的垂直方向上隔着所述第4探针而配置的第5探针和第6探针的多个探针而组成，

所述振幅相位测量单元具有：

振幅相位差测量单元(17a)，其测量通过所述多个探针接收到的无线信号间的相位差，并且，测量通过所述多个探针接收到的无线信号的振幅；

相邻相位差计算单元(17b)，其根据通过所述振幅相位差测量单元测量到的相位差，计算相邻的2个所述测量位置处的所述无线信号间的相位差；以及

第2相位计算单元(17c)，其根据通过所述相邻相位差计算单元计算出的相位差，计算各所述测量位置处的所述无线信号的相位，

所述测量平面中的所述第1探针与所述第2探针的中心间的距离比所述测量平面中的所述第1探针与所述第3探针的中心间的距离长在水平方向上相邻的2个所述测量位置的间隔d₁，

所述测量平面中的所述第4探针与所述第5探针的中心间的距离比所述测量平面中的所述第4探针与所述第6探针的中心间的距离长在垂直方向上相邻的2个所述测量位置的间隔d₂。

3.根据权利要求2所述的校准系统，其特征在于，

所述第1探针、所述第2探针、和所述第3探针之中的任一个兼用作所述第4探针、所述第5探针、和所述第6探针之中的任一个。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的校准系统，其特征在于，

所述被测量天线具有：振幅相位调整部件(103-1～103-N，104-1～104-N)，其调整从各所述天线元件发送的无线信号在所述被测量天线的所述电磁波辐射面中的振幅和相位，

所述天线控制单元包括：

振幅控制单元(16c)，其根据通过所述振幅相位提取单元提取出的振幅与预先确定的振幅的期望值之差，控制利用所述振幅相位调整部件的振幅的调整量；以及

相位控制单元(16b)，其根据通过所述第1相位计算单元计算出的相位与预先确定的相位的期望值之差，控制利用所述振幅相位调整部件的相位的调整量。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的校准系统，其特征在于，

通过所述天线控制单元选择的所述一组天线元件的辐射源间的间隔为从各所述天线元件发送的无线信号的半波长以上。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的校准系统，其特征在于，

在通过所述天线控制单元选择的所述一组天线元件之间，存在之后选择的另一组天线元件中的任一个。