[发明专利]一种频率综合器劣化的检测方法及检测设备

权利要求书

1.一种频率综合器劣化的检测方法，其特征在于，包括：

检测设备接收所述频率综合器输出的待检测信号；

所述检测设备提取所述待检测信号的特征，所述特征包括与所述待检测信号的加性噪声相关的第一特征以及与所述待检测信号的相位噪声相关的第二特征；

所述检测设备将所述特征输入到经过训练后的模型中，输出检测结果；

其中，所述检测设备提取所述待检测信号的特征，包括：

所述检测设备获取所述待检测信号中的各个符号的参考点，根据所述各个符号的参考点在标准参考坐标系的位置以及标准参考信号在所述标准参考坐标系的位置分别计算所述各个符号的半径误差和相位误差；

所述检测设备根据所述各个符号的半径误差和相位误差统计所述待检测信号的半径均方误差和相位均方误差；

所述检测设备对所述半径均方误差取对数得到所述第一特征，以及对所述相位均方误差取对数得到所述第二特征；

或者，所述检测设备提取所述待检测信号的特征，包括：

所述检测设备获取所述待检测信号中的各个符号的参考点，根据所述各个符号的参考点在r坐标系中的位置分别计算所述各个符号的rx误差和ry误差，其中，所述r坐标系的横轴为rx轴，所述rx轴与标准参考信号和标准参考坐标系原点之间的连线重合，所述r坐标系的纵轴为ry轴，所述ry轴与所述横轴垂直；

所述检测设备根据所述各个符号的rx误差和ry误差统计所述待检测信号的rx均方误差和ry均方误差；

所述检测设备对所述rx均方误差取对数得到所述第一特征，以及对所述ry均方误差取对数得到所述第二特征。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在所述检测设备对所述rx均方误差取对数得到所述第一特征，以及对所述ry均方误差取对数得到所述第二特征的情况下，所述特征还包括与所述待检测信号的相位噪声相关的第三特征；

所述检测设备提取所述待检测信号的特征，还包括：

所述检测设备对所述各个符号进行能级划分，分别统计各个能级的符号单独的ry误差均方值；

所述检测设备以所述各个能级的符号在星座图中对应的半径为平面坐标系的横坐标值，以对应的所述单独的ry误差均方值和所述rx误差均方值的比值为所述平面坐标系的纵坐标值构造曲线；

所述检测设备对所述曲线进行直线拟合，将拟合得到的直线的斜率作为所述第三特征。

3.如权利要求1或2所述的检测方法，其特征在于，所述待检测信号为载波信号。

4.一种检测设备，其特征在于，包括：

数据采集模块，用于采集或接收频率综合器输出的待检测信号；

数据预处理模块，用于提取所述待检测信号的特征，所述特征包括与所述待检测信号的加性噪声相关的第一特征以及与所述待检测信号的相位噪声相关的第二特征；

机器学习算法模块，用于将所述特征输入到经过训练后的模型中，输出检测结果；

其中，所述数据预处理模块具体用于：

获取所述待检测信号中的各个符号的参考点，根据所述各个符号的参考点在标准参考坐标系的位置以及标准参考信号在所述标准参考坐标系的位置分别计算所述各个符号的半径误差和相位误差；

根据所述各个符号的半径误差和相位误差统计所述待检测信号的半径均方误差和相位均方误差；

对所述半径均方误差取对数得到所述第一特征，以及对所述相位均方误差取对数，得到所述第二特征；

或者，所述数据预处理模块具体用于：

获取所述待检测信号中的各个符号的参考点，根据所述各个符号的参考点在r坐标系中的位置分别计算所述各个符号的rx误差和ry误差，其中，所述r坐标系的横轴为rx轴，所述rx轴与标准参考信号和标准参考坐标系原点之间的连线重合，所述r坐标系的纵轴为ry轴，所述ry轴与所述横轴垂直；

根据所述各个符号的rx误差和ry误差统计所述待检测信号的rx均方误差和ry均方误差；

对所述rx均方误差取对数得到所述第一特征，以及对所述ry均方误差取对数，得到所述第二特征。