[发明专利]一种用于CT环状伪影校正的体模及校正方法

权利要求书

1.一种用于CT环状伪影校正的体模，其特征在于：包括一组弧形体模或梯形体模；

所述弧形体模包括至少两个半径不同的弧形台阶，所有弧形台阶的弧度均相同；在装配状态下，所有弧形台阶依次同轴叠设，所有弧形台阶靠近弧心的内侧面齐平，以使所有半径不同的弧形台阶远离弧心的外侧面形成厚度落差；在工作状态下，所述弧形体模安置于X射线源的发射口，且弧形体模中心层面的弧心与X射线源的焦点重叠；

所述梯形体模包括至少两个高不同的梯形台阶，在装配状态下，所有梯形台阶依次叠设，且令所有梯形台阶朝向上底的内侧面齐平，以使所有高不同的梯形台阶朝向下底的外侧面依次形成厚度落差；在工作状态下，所述梯形体模安置于X射线源的发射口。

2.一种用于CT环状伪影校正的体模，其特征在于：包括一弧形体模或者梯形体模；

所述弧形体模由至少两层半径不同的弧形台阶一体连接构成，每层弧形台阶的弧度均相同；所述弧形体模中，靠近弧心的内侧面为一弧形面，远离弧心的外侧面依次形成厚度落差；在工作状态下，所述弧形体模安置于X射线源的发射口，且弧形体模中心层面的弧心与X射线源的焦点重叠；

所述梯形体模由至少两层高不同的梯形台阶一体连接构成，所述梯形体模中，靠近梯形上底的内侧面为一平面，靠近下底的外侧面依次形成厚度落差；在工作状态下，所述梯形体模安置于X射线源的发射口。

3.根据权利要求1或2所述的用于CT环状伪影校正的体模，其特征在于：所有弧形台阶的半径由大到小依次递减，所有梯形台阶的高由大到小依次递减。

4.根据权利要求1或2所述的用于CT环状伪影校正的体模，其特征在于：所述弧形体模或者梯形体模的密度范围为0.5-1.5g/m³。

5.根据权利要求1或2所述的用于CT环状伪影校正的体模，其特征在于：所述弧形体模或者梯形体模的密度范围为0.8-1.2g/m³。

6.根据权利要求1或2所述的用于CT环状伪影校正的体模，其特征在于：所述弧形体模或者梯形体模的密度范围为0.9-1.1g/m³。

7.一种用于CT环状伪影校正的校正方法，其特征在于：包括获取校正系数步骤，所述获取校正系数步骤按照以下步骤操作：

S1，建立权利要求1或2所述的弧形体模；

S2，令X射线源不曝光，此时，采集CT探测器各探测单元的本底暗电流Bk，其中，k为CT探测器各探测单元的编号；

S3，令X射线源曝光，并且无成像物体时CT探测器各探测单元的输出数据I0k，其中，k为CT探测器各探测单元的编号；

S4，将所述弧形体模安置于X射线源的发射口，且X射线源的焦点位于所述弧形体模中所有弧形台阶的弧心所在的所述第一直线上；

S5，沿轴线方向移动所述弧形体模，依次曝光、采集不同厚度的弧形台阶对应的CT探测器各探测单元的输出数据I_k，n，其中，k为探测单元的编号，n＝1、2、3……，分别对应不同厚度的弧形台阶的区域；

S6，对采集的曝光数据进行本底暗电流扣除处理，计算公式如下：

IO′_k＝IO_k-B_k 式1；

I′_k，n＝I_k，n-B_k 式2；

S7，根据下述式3对无成像物体的曝光数据和有成像物体的曝光数据进行取对数计算：

S8，采用高次曲线方程(次数≥2)对不同弧形台阶下的A_k，n数据进行最小二乘法拟合，获得探测器各探测单元所对应的拟合后数据A0_k,n；

S9，根据下述式4计算不同厚度的弧形台阶下的各探测单元的校正系数a_k，n：