[发明专利]一种基于CIS的圆柱体表面检测方法、装置及存储介质

权利要求书

1.一种基于CIS的圆柱体表面检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

使CIS传感器对旋转的圆柱体采集模拟图像；

将模拟图像转换为数字图像；

对数字图像的每个像素进行补偿处理；

对经补偿处理的数字图像进行特征分析和缺陷检测；

其中所述对数字图像的每个像素进行补偿处理包括：

测量CIS传感器分别在曝光与不曝光的情况下的基础数值，所述基础数值包括曝光的每个像素的算术平均值Va_n、曝光的每个像素的算术最大值Vamax_n、不曝光的每个像素的算术平均值Vb_n和不曝光的每个像素的算术最大值Vbmax_n；

根据G_n＝(Vamax_n-Vbmax_n)/(Va_n-Vb_n)和OFFSET_n＝Vamax_n-(Vamax_n-Vbmax_n)/(Va_n-Vb_n)*Va_n计算得到每个像素的增益G_n和偏移量OFFSET_n；

根据y_n＝G_n*x_n+OFFSET_n对数字图像的每个像素x_n补偿得到补偿后的像素y_n。

2.根据权利要求1所述的一种基于CIS的圆柱体表面检测方法，其特征在于，所述使CIS传感器对旋转的圆柱体采集模拟图像包括以下步骤：

调整CIS传感器与圆柱体的距离；

调整对圆柱体的光照效果和CIS传感器的曝光度；

使圆柱体旋转并使CIS传感器对圆柱体的侧表面进行模拟图像采集，直至采集到圆柱体侧表面一周的模拟图像；

使CIS传感器对圆柱体的上表面和下表面采集模拟图像。

3.根据权利要求2所述的一种基于CIS的圆柱体表面检测方法，其特征在于，所述调整CIS传感器与圆柱体的距离的步骤中，CIS传感器与圆柱体的距离在1mm-15mm间。

4.根据权利要求1所述的一种基于CIS的圆柱体表面检测方法，其特征在于，所述对经补偿处理的数字图像进行特征分析和缺陷检测包括：

采用HOG算法对经补偿处理的数字图像提取特征；

采用SVM分类器对提取的特征分类；

比较分类后的特征与无缺陷圆柱体的图像特征并判断是否存在缺陷。

5.根据权利要求1所述的一种基于CIS的圆柱体表面检测方法，其特征在于，所述CIS传感器包括感光元件、透镜阵列和光源。

6.一种基于CIS的圆柱体表面检测装置，其特征在于，包括控制处理器和用于与所述控制处理器通信连接的存储器；所述存储器存储有可被所述控制处理器执行的指令，所述指令被所述控制处理器执行，以使所述控制处理器能够执行如权利要求1-5任一项所述的一种基于CIS的圆柱体表面检测方法。

7.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于使计算机执行如权利要求1-5任一项所述的一种基于CIS的圆柱体表面检测方法。