[发明专利]时间测量装置在审
申请号: | 201910349785.6 | 申请日: | 2019-04-28 |
公开(公告)号: | CN110531343A | 公开(公告)日: | 2019-12-03 |
发明(设计)人: | 西野辰树 | 申请(专利权)人: | 索尼半导体解决方案公司 |
主分类号: | G01S7/486 | 分类号: | G01S7/486;G01S17/08 |
代理公司: | 11290 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 崔迎宾;李雪春<国际申请>=<国际公布> |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 受光元件 逻辑脉冲 脉冲数 检测脉冲信号 脉冲信号检测 时间测量装置 脉冲数检测 时刻检测部 结果生成 脉冲信号 受光时刻 光脉冲 射出 受光 像素 光源 | ||
1.一种时间测量装置,其特征在于,具备:
像素,具有受光元件,能够基于所述受光元件的受光结果生成包含逻辑脉冲的脉冲信号;
时刻检测部,能够基于所述脉冲信号检测所述受光元件的受光时刻;
脉冲数检测部,能够检测所述脉冲信号中包含的所述逻辑脉冲的脉冲数;以及
控制部,能够基于所述脉冲数对射出多个光脉冲的光源的动作进行控制。
2.根据权利要求1所述的时间测量装置,其特征在于,
所述控制部能够基于所述脉冲数对所述多个光脉冲各自的光强度进行控制。
3.根据权利要求2所述的时间测量装置,其特征在于,
所述控制部在所述脉冲数是第1脉冲数的情况下,能够将所述光强度设定为第1光强度,在所述脉冲数是比所述第1脉冲数多的第2脉冲数的情况下,能够将所述光强度设定为比所述第1光强度强的第2光强度。
4.根据权利要求1所述的时间测量装置,其特征在于,
所述控制部能够基于所述脉冲数对所述多个光脉冲的光脉冲数进行控制。
5.根据权利要求4所述的时间测量装置,其特征在于,
所述控制部在所述脉冲数是第1脉冲数的情况下,能够将所述光脉冲数设定为第1光脉冲数,在所述脉冲数是比所述第1脉冲数多的第2脉冲数的情况下,能够将所述光脉冲数设定为比所述第1光脉冲数多的第2光脉冲数。
6.根据权利要求1所述的时间测量装置,其特征在于,
所述时间测量装置还具备直方图生成部,该直方图生成部能够基于所述受光时刻生成关于所述受光时刻的直方图。
7.根据权利要求6所述的时间测量装置,其特征在于,
当所述直方图的波峰达到与所述脉冲数对应的阈值时,所述控制部能够停止所述光源的动作。
8.根据权利要求7所述的时间测量装置,其特征在于,
所述控制部在所述脉冲数是第1脉冲数的情况下,能够将所述阈值设定为第1阈值,在所述脉冲数是比所述第1脉冲数多的第2脉冲数的情况下,能够将所述阈值设定为比所述第1阈值大的第2阈值。
9.根据权利要求1所述的时间测量装置,其特征在于,
所述脉冲数检测部能够基于所述脉冲信号检测所述脉冲数。
10.根据权利要求1所述的时间测量装置,其特征在于,
所述脉冲数检测部通过基于所述受光时刻生成关于所述受光时刻的直方图,能够检测所述脉冲数。
11.根据权利要求1所述的时间测量装置,其特征在于,
所述时刻检测部能够以所述光脉冲的发光时刻为基准检测所述受光时刻。
12.根据权利要求1所述的时间测量装置,其特征在于,
所述时间测量装置还具备所述光源。
13.一种时间测量装置,其特征在于,具备:
第1像素,具有第1受光元件,能够基于所述第1受光元件的受光结果生成包含逻辑脉冲的第1脉冲信号;
第2像素,具有第2受光元件,能够基于所述第2受光元件的受光结果生成包含逻辑脉冲的第2脉冲信号;
时刻检测部,能够基于所述第1脉冲信号检测所述第1受光元件的受光时刻;
脉冲数检测部,能够检测所述第2脉冲信号中包含的所述逻辑脉冲的脉冲数;以及
控制部,能够基于所述脉冲数对射出多个光脉冲的光源的动作进行控制。
14.根据权利要求13所述的时间测量装置,其特征在于,
所述第2受光元件能够接收规定颜色的光。
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