[发明专利]基于物理信息的信号电迁移批量修复方法、系统及介质

说明书

本发明公开了一种基于物理信息的信号电迁移批量修复方法、系统及介质，本发明的实施步骤包括：针对每一个当前信号电迁移，如果违反路径在数据路径上，当扇出路径为单扇出路径时则在该数据路径的中间位置插入缓冲单元；否则当扇出路径为多扇出路径时则在该数据路径的起始点侧指定位置插入缓冲单元；如果违反路径在时钟路径上，则删除原有的违反金属层，设定新的金属绕线规则；最终进行等价性检查、重新绕线、信号电迁移检查以确定是继续进行修改还是结束修复过程。本发明实现了自动化分析、自动化分类、自动化修复，节省了大量的人力成本和时间成本，并缩短设计迭代周期。

技术领域

本发明涉及超大规模集成电路物理设计领域，具体涉及一种基于物理信息的信号电迁移批量修复方法、系统及介质。

背景技术

随着集成电路特征尺寸的不断减小，互连线金属薄膜的截面积也越来越小，其承受的电流密度急剧增加，电迁移（Electromigration，EM）引起的互连失效日益严重。在早期的工艺节点中，通常只关注电源电迁移（Power EM），但是在28nm及28nm以下工艺节点中，互连线的宽度进一步减小、走线长度变长、信号频率变高，导致信号电迁移（Signal EM）问题日益凸显，使其成为集成电路布局布线阶段必须解决的重要问题。目前，关于信号电迁移的修复方法主要采用人工逐条分析并修复，缺乏批量自动处理方法，修复效率低下并需要多次迭代，人力成本和时间成本浪费严重，从而影响了芯片设计周期。

发明内容

本发明要解决的技术问题：针对现有技术的上述问题，提供一种基于物理信息的信号电迁移批量修复方法、系统及介质，本发明实现了自动化分析、自动化分类、自动化修复，节省了大量的人力成本和时间成本，并缩短设计迭代周期。

为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：

一种基于物理信息的信号电迁移批量修复方法，实施步骤包括：

1）针对输入的信号电迁移报告生成待修复的信号电迁移违反集合，从信号电迁移违反集合中遍历选择一条信号电迁移违反信息作为当前信号电迁移；

2）判断当前信号电迁移的违反路径是在数据路径还是在时钟路径上，如果违反路径在数据路径上则跳转执行步骤3）；如果违反路径在时钟路径上则跳转执行步骤4）；

3）判断数据路径是否为单扇出路径，如果数据路径为单扇出路径则在该数据路径的中间位置插入缓冲单元；否则在该数据路径的起始点侧指定位置插入缓冲单元；跳转执行步骤5）；

4）删除原有的违反金属层，设定新的金属绕线规则；跳转执行步骤5）；

5）判断信号电迁移违反集合是否处理完毕，如果尚未处理完毕，则从信号电迁移违反集合中遍历选择下一条当前信号电迁移，跳转执行步骤2）；否则，跳转执行步骤6）；

6）对完成修复的信号电迁移报告进行等价性检查；

7）重新绕线，进行信号电迁移检查，如果检测不通过则将发生信号电迁移违反的信号电迁移信息加入信号电迁移违反集合，从信号电迁移违反集合中遍历选择一条信号电迁移违反信息作为当前信号电迁移，跳转执行步骤2）；如果检测通过，则结束并退出。

优选地，步骤3）中在该数据路径的中间位置插入缓冲单元的详细步骤包括：获取这条违反路径相关单元和互连线的物理属性，物理属性包括名称以及位置，然后根据获得的单元和线位置确定该数据路径的中间位置，然后在该数据路径的中间位置插入预设大小、类型、数量的缓冲单元。

优选地，步骤3）中在该数据路径的起始点侧指定位置插入缓冲单元的详细步骤包括：

S1）判断数据路径的扇出数量，如果扇出数量等于2，则跳转执行步骤S2）；否则如果扇出数量大于2，则跳转执行步骤S3）；