[发明专利]用于红外辐射生成的光子转换晶片的设计方法和系统有效
申请号: | 201910351125.1 | 申请日: | 2019-04-28 |
公开(公告)号: | CN110222365B | 公开(公告)日: | 2021-09-07 |
发明(设计)人: | 田义;李艳红;李奇;王帅豪;沈涛;孟宇麟;李凡;杨扬;柴娟芳;张励;史松伟;孙刚 | 申请(专利权)人: | 上海机电工程研究所 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;H01L21/82 |
代理公司: | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人: | 庄文莉 |
地址: | 201100 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 红外 辐射 生成 光子 转换 晶片 设计 方法 系统 | ||
1.一种用于红外辐射生成的光子转换晶片的设计方法,其特征在于,确定选定材料类型及厚度,根据所需模拟的图像帧周期、图像空间分辨率、图像温度范围,得到了基于光子诱导红外辐射生成的光子转换的设计参数;
包括以下步骤:
参数输入步骤:选定材料折射率n及厚度L,确定所需模拟的图像帧周期t,确定所需模拟的图像空间分辨率d,确定所需模拟的图像温度范围从最低温T0min到最高温T0max;
温度设定步骤:根据折射率n计算出材料的反射率R,根据反射率R计算出光谱发射率的最大调制Emax,根据斯蒂芬玻耳兹曼定律,推算得出晶片的加热温度T;
电导率计算步骤:基于加热温度T和最低温T0min,获得模拟所需的最低发射率Emin,推算总吸收系数η变化范围,计算出吸收系数α的变化范围,确定复介电常数虚部kim的变化范围,计算出载流子浓度N的变化范围,计算得到的载流子浓度N的最小值Nmin记为晶片的掺杂浓度;
泵浦光参数计算步骤:确定载流子寿命τeff,计算得到的载流子浓度N的最大值Nmax记为最大载流子浓度,选取泵浦光波长,计算得到泵浦功率密度PLaser。
2.根据权利要求1所述的用于红外辐射生成的光子转换晶片的设计方法,其特征在于,所述温度设定步骤包括:
步骤A1:根据选定材料的折射率n和公式(1)计算出材料的反射率R:
步骤A2:计算出光谱发射率Espectrum:
其中,η是晶片在某辐射波长的总吸收系数,当η趋于0时,得到光谱发射率的最大调制Emax,
Emax=1-R (3)
步骤A3:根据斯蒂芬玻耳兹曼定律,辐射能j表示为:
j=εσT4 (4)
其中,σ是比例常数,ε是发射率,T是加热温度,将最高温度T0max和最大调制发射率Emax代入公式(4)得到公式(5):
由此,推算出晶片的加热温度T:
3.根据权利要求2所述的用于红外辐射生成的光子转换晶片的设计方法,其特征在于,所述电导率计算步骤包括:
步骤B1:将所需模拟的图像最低温度T0min带入公式(7)获得模拟所需的最低发射率Emin,
步骤B2:由公式(3)和公式(7)可知,发射率E的调制范围在Emin至Emax的范围之间,根据式(8),推算总吸收系数η变化范围,
步骤B3:根据设定的晶片厚度L和公式(9),计算出吸收系数α的变化范围,
α=-ln(η)/L (9)
步骤B4:确定复介电常数虚部kim的变化范围,
其中,π表示圆周率,λ表示所辐射的红外波长;
步骤B5:计算出载流子浓度N的变化范围:
其中,q是元电荷,ε0是真空介电常数,ε∞是频率趋于无穷时材料的介电常数,me和mh分别是电子和空穴的有效质量,ωIR是红外辐射的角频率,具体表示为:
γe和γh分别表示为:
其中μe是电子迁移率,μh是空穴迁移率;
步骤B6:取E=Emin,由公式(8)至公式(11)计算得到的载流子浓度N的值Nmin就是晶片的掺杂浓度。
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