[发明专利]不良LED处理方法、系统、设备及计算机可读存储介质

说明书

本发明实施例提供一种不良LED处理方法、系统、设备及计算机可读存储介质，通过单号扫描仪获取LED产品的流程单号，接收输入的至少一个不良项目信息，并以流程单号为单位统计LED产品中LED在各质量因素方面的不良情况，从而使得最终的不良统计结果能够以流程单号为单位获取，使得对LED不良情况的统计可以追溯至对应的LED产品，实现LED产品中不良情况的统计分析，统计结果分类更加细致；另外，对不良LED的统计计数技术不再依赖于人工的称重计数，提升了统计结果的准确性。本发明实施例还提供不良LED处理系统、设备及计算机可读存储介质，能够为不良LED出现原因的分析以及LED产品生产工艺的改进提供更可靠的数据依据，提升生产效率。

技术领域

本发明涉及LED领域，尤其涉及一种不良LED处理方法、系统、设备及计算机可读存储介质。

背景技术

贴片LED灯珠在封装、烘烤完成后，须将不良的灯珠剔除后才能将其与支架载体批量剥离，防止不良混入正常品中。为了便于后续分析不良LED的出现原因，并加以改进，还需要对贴片LED灯珠中的不良LED进行分类，并统计各不良项目下的LED数目。所以，在现有技术中，会设置三个岗位来完成上述工作：

岗位1：外观岗，主要职责是利用显微镜对贴片LED灯珠中的LED进行检查，用漆笔标记不良LED以及不良LED对应的不良项目；

岗位2：剥料岗，主要职责是根据岗位1中的标记，用镊子剥离不良LED，并将剥落的不良LED分类放入对应不良项目所属的盒子中；

岗位3：计数岗，主要职责是对岗位2中剥离的不良LED按批次按不良项目进行汇总，并完成称重计数与数据的系统录入。

在现有技术中，对不良LED的统计计数是按批次进行的，无法追溯确定每一片贴片LED灯珠的不良情况，另外，因为称重计数是人工进行的，因此，统计结果会收到人主观因素的影响，导致统计结果准确性差。

发明内容

本发明实施例提供的不良LED处理方法、系统、设备及计算机可读存储介质，主要解决的技术问题是：解决现有技术中按批次对LED灯珠产品中的不良LED进行统计，无法实现对单个LED产品中不良情况的追溯，且统计结果准确性差的问题。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种不良LED处理方法，包括：

通过单号扫描仪扫描LED产品上携带的流程单号，获取所述LED产品的流程单号，LED产品中包括镂空支架载体以及设置在镂空支架载体上的至少两个LED；

接收输入的至少一个不良项目信息，不良项目信息与LED的一种质量因素唯一对应，表征LED在质量因素方面表现不良；

以流程单号为单位统计LED产品中LED在各质量因素方面的不良情况。

可选地，还包括：

在接收到输入的不良项目信息后，控制击落机构的击落头移动至观察显微镜载物底板的通孔上方，通孔连通载物底板上方区域与位于载物底板下方的接料盘；载物底板用于放置LED产品；

控制击落头垂直向下移动将当前位于通孔上方的目标LED从镂空支架上冲落，通过通孔落至接料盘中。

可选地，载物底板上的通孔设置在载物底板上与物镜对应的区域；目标LED为LED产品中当前正处于物镜观察区域的LED。

本发明实施例还提供一种不良LED处理系统，包括输入设备以及处理设备，输入设备与处理设备通信连接；

输入设备用于获取LED产品的流程单号，并接收输入的至少一个不良项目信息，LED产品中包括镂空支架载体以及设置在镂空支架载体上的至少两个LED，不良项目信息与LED的一种质量因素唯一对应，表征LED在质量因素方面表现不良；处理设备用于以流程单号为单位统计LED产品中LED在各质量因素方面的不良情况。