[发明专利]基于成像端扫描的显微成像光谱仪设计方法在审
申请号: | 201910352016.1 | 申请日: | 2019-04-29 |
公开(公告)号: | CN111854952A | 公开(公告)日: | 2020-10-30 |
发明(设计)人: | 唐义;常月娥;李平安;刘婉玉 | 申请(专利权)人: | 北京朗晖光电科技有限公司 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28;G02B21/36;G02B26/10 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100081 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 成像 扫描 显微 光谱仪 设计 方法 | ||
1.基于成像端扫描的显微成像光谱仪设计方法,其特征在于,对经显微镜放大的像方进行高光谱成像数据扫描采集。
2.基于成像端扫描的显微成像光谱仪设计方法,其特征在于,成像光谱仪采用狭缝推扫色散体制。
3.基于成像端扫描的显微成像光谱仪设计方法,其特征在于,拥有3种推扫扫描体制。
扫描体制1:整机平移或旋转模式推扫扫描体制;
扫描体制2:扫镜扫描模式推扫扫描体制;
扫描体制3:狭缝移动模式推扫扫描体制。
4.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,整机平移或旋转模式推扫扫描体制使用平移台/旋转台对成像光谱仪整机进行平移/旋转,成像光谱仪的镜头耦合对准显微镜的侧出光口,实现成像光谱仪对侧出光口输出的目标放大像的数据扫描采集。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,扫镜扫描模式推扫扫描体制在成像光谱仪和显微镜侧出光口之间添加扫镜作为光路耦合器件,通过扫镜的扫描实现成像光谱仪对显微镜侧出光口输出的目标放大像的数据扫描采集。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,狭缝移动模式推扫扫描体制通过使用电机控制狭缝移动的方式,实现对显微镜侧出光口输出的目标放大像的数据扫描采集。
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