[发明专利]芯片采样准位确定方法及装置

说明书

本公开的实施例提供了一种芯片采样准位确定方法、装置、计算机可读介质及电子设备。该芯片采样准位确定方法包括：获取待测芯片的多个并行通道的数据信号，各数据信号波形相同；按照第一间隔给各通道的数据信号设置第一测试采样点；根据各数据信号的第一测试采样点，获取各数据信号的第一采样电压；根据各第一采样电压确定所述待测芯片的采样准位。本公开实施例的技术方案能够实现待测芯片的采样准位的自动准确定位。

技术领域

本公开涉及芯片测试技术领域，具体而言，涉及一种芯片采样准位确定方法、装置、计算机可读介质及电子设备。

背景技术

通过测试机对内存芯片进行读取数据的测试时，需要首先确定测试机的信号采样点。由于每一颗内存芯片输出数据信号的时间起始点都不尽相同，若采用不准确的信号采样点对内存芯片输出的数据信号进行采样，测试机可能采样到错误的信号，导致读取的数据不准确，从而影响测试结果。

因此，如何能够实现内存芯片的采样准位的准确定位是目前亟待解决的技术问题。

发明内容

本公开实施例的目的在于提供一种芯片采样准位确定方法、装置、计算机可读介质及电子设备，进而至少在一定程度上实现内存芯片的采样准位的准确定位。

本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本公开的实践而习得。

根据本公开实施例的一个方面，提供了一种芯片采样准位确定方法，包括：获取待测芯片的多个并行通道的数据信号，各数据信号波形相同；按照第一间隔给各通道的数据信号设置第一测试采样点；根据各数据信号的第一测试采样点，获取各数据信号的第一采样电压；根据各第一采样电压确定所述待测芯片的采样准位。

根据本公开实施例的一个方面，提供了一种芯片采样准位确定装置，包括：并行数据获取模块，配置为获取待测芯片的多个并行通道的数据信号，各数据信号波形相同；第一采样设置模块，配置为按照第一间隔给各通道的数据信号设置第一测试采样点；第一电压获取模块，配置为根据各数据信号的第一测试采样点，获取各数据信号的第一采样电压；采样准位确定模块，配置为根据各第一采样电压确定所述待测芯片的采样准位。

根据本公开实施例的一个方面，提供了一种计算机可读介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述实施例中所述的芯片采样准位确定方法。

根据本公开实施例的一个方面，提供了一种电子设备，包括：一个或多个处理器；存储装置，用于存储一个或多个程序，当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时，使得所述一个或多个处理器实现如上述实施例中所述的芯片采样准位确定方法。

在本公开的一些实施例所提供的技术方案中，利用测试机可编程功能以及待测芯片的语言规则，读取待测芯片的多个并行通道的具有相同波形的数据信号，然后按照第一间隔给各通道的数据通道分别设置第一测试采样点，并根据各数据信号的第一测试采样点可以获取到各数据信号的第一采样电压，从而可以实现根据各第一采样电压来确定该待测芯片的采样准位，一方面，这种方式可以校准测试机对不同待测芯片的采样准位，减少测试时间，使得测试更加自动化；另一方面，还可以提高待测芯片的采样准位的准确度，从而可以确保后续测试结果的精准度，甚至在高速测试中也能保证测试机采样到准确的信号。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：

图1示意性示出了根据本公开的一个实施例的DRAM芯片的读时序定义示意图；

图2示意性示出了不准确的信号采样点的示意图；