[发明专利]相控阵天线系统级测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种相控阵天线系统级测试系统，其特征在于，包括：

天线阵列，所述天线阵列包括至少两个测试天线和隔离材料，用于对待测试的相控阵天线进行预设距离内的系统级近场测试；

微波暗室，所述天线阵列与所述相控阵天线均设置在所述微波暗室内；以及

仪表，所述仪表包括信道模拟器和多路信号收发器，所述仪表连接所述天线阵列和所述相控阵天线，用于配合所述天线阵列对所述相控阵天线进行系统级测试。

2.根据权利要求1所述的相控阵天线系统级测试系统，其特征在于，所述天线阵列为双极化天线阵列，所述双极化天线阵列包括至少两个双极化测量天线和隔离材料，所述至少两个双极化测量天线的每个双极化测量天线具有两个相互交叉设置的天线单元，其中，所述天线单元包括：

第一辐射件，所述第一辐射件内部构成第一容纳腔，所述第一容纳腔的腔体贯通所述第一辐射件的第一端和第二端；

第二辐射件，所述第二辐射件的第一端和所述第一辐射件的第一端不连接，所述第二辐射件的第二端和所述第一辐射件的第二端电气连接；

平衡件，所述平衡件的第一端和所述第二辐射件的第二端电气连接；以及

馈电件，所述馈电件偏离天线单元中心预设距离且与所述平衡件对应设置，其中，所述馈电件包括：

外芯，所述外芯内部构成第二容纳腔，所述第二容纳腔的腔体贯通所述外芯的第一端和所述外芯的第二端，且所述外芯的第一端和所述第一辐射件的第二端电气连接；

内芯，所述内芯贯穿所述第一容纳腔和所述第二容纳腔的腔体，所述内芯的第一端穿出所述第一辐射件的第一端并与所述第二辐射件耦合连接。

3.根据权利要求2所述的相控阵天线系统级测试系统，其特征在于，所述双极化测试天线插入所述隔离材料顶部，或者所述双极化测试天线插入所述隔离材料形成的容纳腔底部。

4.根据权利要求3述的相控阵天线系统级测试系统，其特征在于，还包括：

调谐器，所述调谐器连接所述馈电件述外芯的第二端和所述内芯的第二端。

5.根据权利要求2所述的相控阵天线系统级测试系统，其特征在于，还包括：

移动台，所述双极化天线阵列和所述相控阵天线中的至少一个设在所述移动台上。

6.根据权利要求1-5任一项所述的相控阵天线系统级测试系统，其特征在于，所述预设距离小于或等于10cm或者两倍波长。

7.一种相控阵天线系统级测试方法，其特征在于，采用如权利要求1-6任一项所述的系统，其中，方法包括以下步骤：

选择相等数量的所述测试天线和所述相控阵天线的被测天线；

获取选择的所述相控阵天线的被测天线的天线方向图信息；

根据所述天线方向图信息控制所述信道模拟器的端口与所述选择的相控阵天线的被测天线的端口形成一对一信号传输；以及

控制所述信道模拟器通过运算生成测试信号，并将所述测试信号馈入对应的接收端，以进行对应测试。

8.根据权利要求7所述的相控阵天线系统级测试方法，其特征在于，所述相控阵天线的被测天线的天线方向图信息为仿真值或预设值。

9.根据权利要求7所述的相控阵天线系统级测试方法，其特征在于，所述相控阵天线的被测天线的天线方向图信息为通过测试获得的所述相控阵天线动态波束赋形工作模式下的实时方向图信息。

10.根据权利要求9所述的相控阵天线系统级测试方法，其特征在于，在获取所述选择的相控阵天线的被测天线的天线方向图信息之后，还包括：

将测试天线的端口信号或所述测试信号加载射频矩阵模块处理，以形成一对一信号传输。

11.根据权利要求9所述的相控阵天线系统级测试方法，其特征在于，在获取所述选择的相控阵天线的被测天线的天线方向图信息之后，还包括：

调节选择的所述测试天线与所述相控阵天线的被测天线之间的物理距离，以形成一对一信号传输。