[发明专利]引线牢固性测试方法

说明书

本发明适用于电子元器件检测技术领域，提供一种引线牢固性测试方法，包括支撑组件、旋转紧固座、至少一组滑动紧固夹组件、指示盘以及引线紧固组件；旋转紧固座设置在支撑组件上，旋转紧固座包括与支撑组件转动连接的转动部、施力部以及装夹安装部，装夹安装部和施力部分别与转动部相连，指示盘上设有刻度。旋转紧固座上设有指针部，指针部与指示盘配合显示试验时引线的弯曲角度。本发明提供的引线牢固性测试方法，通过设置与支撑组件转动连接的旋转紧固座、安装在支撑组件上的引线紧固组件以及用于显示试验时引线的弯曲角度的指针部和指示盘，能够精确角度完成引线弯曲试验，借助砝码后能够分别完成引线疲劳试验及引线拉力试验。

技术领域

本发明属于电子元器件检测技术领域，更具体地说，是涉及一种引线牢固性测试方法。

背景技术

引线牢固性试验包括引线弯曲试验、引线疲劳试验、引线拉力试验、引线扭力试验等，其中引线弯曲试验、引线疲劳试验及引线拉力试验的试验量占到了所有引线牢固性试验数量的99％以上。因此，发明引线牢固性测试方法，解决上述三项细分试验的问题后即可解决绝大多数试验问题。

引线弯曲试验用来测定引线密封和引线涂层的牢固性。目前现行最常用的国军标及方法为GJB 548B-2005《微电子器件试验方法和程序》方法2004.3-引线牢固性第6章：试验条件B1(弯曲应力)。该方法是参考美军标MIL-STD-883E《微电路试验方法标准》(《Testmethod standard microcircuits》)方法2004.5-引线牢固性试验条件B1-弯曲应力而制定的。本方法适用于易弯曲和半易弯曲引线、双列封装和针栅阵列封装引线、刚性引线的弯曲试验。不同引线类型的弯曲试验程序中，均规定了不同的弯曲角度，对施力大小不作要求。

引线疲劳试验用于多次施加弯曲应力的情况，主要用来测定引线在多次弯曲时的抗金属疲劳性能。目前现行最常用的国军标及方法为GJB 548B-2005《微电子器件试验方法和程序》方法2004.3-引线牢固性第7章试验条件B2(引线疲劳)。该方法是参考美军标MIL-STD-883E《微电路试验方法标准》(《Test method standard microcircuits》)方法2004.5-引线牢固性试验条件B2-引线疲劳试验而制定的。不同类型引线的疲劳试验，使用不同的弯曲角度和施力大小，且不同的标准中，疲劳试验参数不尽相同。引线疲劳试验程序均为同一标准中的引线弯曲试验重复3次。

引线拉力试验是为检查器件引线、焊接及密封的抗直线拉力能力。目前现行最常用的国军标及方法为GJB 548B-2005《微电子器件试验方法和程序》方法2004.3-引线牢固性第5章：试验条件A(拉力)。该方法是参考美军标MIL-STD-883E《微电路试验方法标准》(《Test method standard of microcircuits》)方法2004.5-引线牢固性试验条件B1-弯曲应力而制定的。拉力试验程序如下：在与引线或引出端轴向平行的方向上，对被试验引线无冲击地施加规定的力，并保持一定的时间。

目前市场上尚没有一种能够对元器件精确角度进行引线弯曲试验、引线疲劳试验同时还可进行引线拉力试验的引线牢固性测试方法。

发明内容

本发明的目的在于提供一种引线牢固性测试方法，旨在实现借助一台该引线牢固性测试方法精确角度完成引线弯曲试验、引线疲劳试验同时还可完成引线拉力试验。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：一种引线牢固性测试方法，包括：

支撑组件；

旋转紧固座，设置在所述支撑组件上，用于为引线提供弯曲力，所述旋转紧固座包括与所述支撑组件转动连接的转动部、施力部以及装夹安装部，所述装夹安装部和所述施力部分别与所述转动部相连；

至少一组滑动紧固夹组件，安装在所述装夹安装部上，用于固定元器件；

指示盘，固设在所述支撑组件上，所述指示盘上设有刻度；以及