[发明专利]一种光电探测模块的频率响应标定装置及方法有效

专利信息
申请号: 201910355302.3 申请日: 2019-04-29
公开(公告)号: CN109990822B 公开(公告)日: 2022-04-22
发明(设计)人: 鞠军委;张爱国;金辉;徐桂城;刘加庆;曲天阳;韩顺利;张志辉;闫继送 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
主分类号: G01D18/00 分类号: G01D18/00;G01V13/00
代理公司: 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 代理人: 张庆骞
地址: 266555 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 光电 探测 模块 频率响应 标定 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种光电探测模块的频率响应标定装置,其特征在于,包括:

电压检测模块,其用于测量光电探测模块的输出电压;

可调谐光源,其用于输出不同波长范围内的光至光电探测模块;

可调稳压源,其用于控制光电探测模块的偏置电压;

在特定波长λ0和特定偏置电压V0下,记录光电探测模块的输出电压U0且测量光电探测模块随调制频率的频率响应Sf;然后分别调节可调谐光源和可调稳压源,记录在特定偏置电压V0和不同光波长下光电探测模块的输出电压Uλ,以及特定波长λ0和不同偏置电压下光电探测模块的输出电压UV;通过Uλ与U0求商,得到波长响应度校准因子αλ;通过UV与U0求商,得到偏置电压校准因子βV

将频率响应Sf、波长响应度校准因子αλ和偏置电压校准因子βV相乘,得到不同光波长、不同偏置电压、不同调制频率下的频率响应参数,以提高光电探测的标定效率和测量精度;

在特定光波长及特定偏置电压下,采用标准的光波元件分析仪来测量光电探测模块随调制频率变化的频率响应;在特定光波长及特定偏置电压下,采用光外差法来测量光电探测模块随调制频率变化的频率响应。

2.如权利要求1所述的一种光电探测模块的频率响应标定装置,其特征在于,所述电压检测模块为电压表。

3.一种光电探测模块的频率响应标定方法,其特征在于,包括:

在特定波长λ0和特定偏置电压V0下,测量光电探测模块的输出电压U0且测量光电探测模块随调制频率的频率响应Sf

分别调节输入至光电探测模块中的光波长及偏置电压,测量在特定偏置电压V0和不同光波长下光电探测模块的输出电压Uλ,以及特定波长λ0和不同偏置电压下光电探测模块的输出电压UV

通过Uλ与U0求商,得到波长响应度校准因子αλ;通过UV与U0求商,得到偏置电压校准因子βV

将频率响应Sf、波长响应度校准因子αλ和偏置电压校准因子βV相乘,得到不同光波长、不同偏置电压、不同调制频率下的频率响应参数,以提高光电探测的标定效率和测量精度;

在特定光波长及特定偏置电压下,采用标准的光波元件分析仪来测量光电探测模块随调制频率变化的频率响应;在特定光波长及特定偏置电压下,采用光外差法来测量光电探测模块随调制频率变化的频率响应。

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