[发明专利]AMOLED面板成盒检测电路及其修复数据线的方法

说明书

本发明涉及一种AMOLED面板成盒检测电路及其修复数据线的方法。该电路包括：第一开关(SW1)，其控制端连接检测控制信号(EN)，输入端输入第一数据信号(Data R/B)，输出端连接第一检测数据信号线(CT R)；第二开关(SW2)，其控制端连接检测控制信号(EN)，输入端输入第二数据信号(Data B/R)，输出端连接第二检测数据信号线(CT B)；第三开关(SW3)，其控制端连接检测控制信号(EN)，输入端输入第三数据信号(Data G)，输出端连接第三检测数据信号线(CT G)；各类数据线分别连接第一检测数据信号线(CT R)、第二检测数据信号线(CT B)及第三检测数据信号线(CT G)。本发明不仅可以实现成盒检测电路的画面检测功能，且能实现电路修复，提升良率。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种AMOLED面板成盒检测电路及其修复数据线的方法。

背景技术

有源矩阵有机发光二极体(Active-matrix organic light emitting diode，简称AMOLED)面板具有自发光的特性，采用非常薄的有机材料涂层和玻璃基板制作，当有电流通过时，这些有机材料就会发光。AMOLED面板是自发光，不像薄膜场效应晶体管液晶显示(TFT LCD)面板需要背光，视角广，色饱和度高，尤其其驱动电压低且功耗低，加上反应快、重量轻、厚度薄，构造简单，成本低等，被视为最具前途的产品之一。

目前，产品的良率仍然是AMOLED技术的关键问题，为监控面板生产各段制程的良率，一般会在面板中设计各种检测电路，用于各段制程中筛选能正常工作的面板，减少不良品流入后段制程中。成盒检测(Cell Test，CT)电路为一种常见的检测电路，用于在面板的成盒(Cell)段制程进行检测。

一般的AMOLED面板的设计，成盒检测电路仅能作为检测面板显示的电路。参见图1，其为一种现有一般的成盒检测电路示意图，其使用走线较多，空间占比较大，不利于面板的窄边框设计，主要包括T1～T6六个薄膜晶体管作为开关，T1～T6的栅极分别连接三个检测控制信号EN-G、EN-R/B及EN-B/R作为开关信号，T1～T6的输入端分别输入作为检测的数据信号Data R/B、Data G及Data B/R，T1～T6的输出端分别连接检测数据信号线CT-G、CT-B/R及CT-R/B，通过各检测数据信号线再连接面板有效显示区(AA)内的各数据线以分别输入数据信号Data R/B、Data G及Data B/R进行成盒检测。

当面板内的数据线失效时，面板画面显示异常(出现竖直亮线)，图1所示现有的成盒检测电路仅作为画面检测电路存在。

发明内容

因此，本发明的目的在于提供一种AMOLED面板成盒检测电路及其修复数据线的方法，克服现有的成盒检测电路仅作为画面检测电路存在的缺点。

为实现上述目的，本发明提供了一种AMOLED面板成盒检测电路，包括：

第一开关，其控制端连接检测控制信号，输入端输入第一数据信号，输出端连接第一检测数据信号线；

第二开关，其控制端连接检测控制信号，输入端输入第二数据信号，输出端连接第二检测数据信号线；

第三开关，其控制端连接检测控制信号，输入端输入第三数据信号，输出端连接第三检测数据信号线；

面板内的数据线按照其所连接子像素的排列方式分为第一类数据线、第二类数据线及第三类数据线，第一检测数据信号线连接第一类数据线，第二检测数据信号线连接第二类数据线，第三检测数据信号线连接第三类数据线；

第一检测数据信号线、第二检测数据信号线及第三检测数据信号线在面板有效显示区两侧分别设有对应的第一垂直走线、第二垂直走线及第三垂直走线，并且在面板有效显示区内垂直于数据线方向按照预设间隔分别设有连接两侧对应的第一垂直走线、第二垂直走线及第三垂直走线的多条第一种平行走线、第二种平行走线及第三种平行走线。