[发明专利]磁共振场图确定方法、装置、电子设备及存储介质有效
申请号: | 201910357668.4 | 申请日: | 2019-04-29 |
公开(公告)号: | CN109917314B | 公开(公告)日: | 2021-05-07 |
发明(设计)人: | 郑远;叶永泉;丁彧 | 申请(专利权)人: | 上海联影医疗科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R33/48 | 分类号: | G01R33/48;G01R33/54;A61B5/055 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 201807 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 磁共振 确定 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种磁共振场图确定方法,其特征在于,包括:
获取至少三个不同回波时间下扫描同一被检测对象所得到的参考图像,其中,至少两个相邻回波时间的差值不相等;
构建以偏共振频率为自变量的目标函数;其中,所述目标函数包括所述参考图像在各相邻回波时间的相位偏差构建的相位偏差项和所述偏共振频率在至少一个变换域下的稀疏性参数构建的稀疏性约束项;
根据所述目标函数确定所述参考图像对应的目标偏共振频率,并根据所述目标偏共振频率确定磁共振场图;
其中,所述构建以偏共振频率为自变量的目标函数,包括:
根据所述偏共振频率、各相邻回波时间对应的参考图像以及所述相邻回波时间的时间差值,分别确定各相邻回波时间对应的相位偏差,并根据各所述相位偏差构建所述相位偏差项;
确定所述偏共振频率在至少一个变换域下的稀疏性参数,并根据各所述稀疏性参数构建所述稀疏性约束项;
根据所述相位偏差项和所述稀疏性约束项,得到以所述偏共振频率为自变量的目标函数。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述偏共振频率、各相邻回波时间对应的参考图像以及所述相邻回波时间的时间差值,分别确定各相邻回波时间对应的相位偏差,包括:
根据相邻回波时间的时间差值,对相邻回波时间对应的参考图像的相位差进行估计,得到以偏共振频率为自变量的估计相位差;
分别根据所述相邻回波时间的各参考图像的当前像素值,确定实际相位差;
根据所述估计相位差和所述实际相位差,分别确定各相邻回波时间的相位偏差。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据所述估计相位差和所述实际相位差,分别确定各相邻回波时间的相位偏差,包括:
确定各相邻回波时间对应的所述估计相位差与所述实际相位差的欧几里得范数,将得到的结果作为所述相位偏差。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,确定所述偏共振频率在至少一个变换域下的稀疏性参数,包括:
基于变分法、小波变换、离散傅里叶变换、离散余弦变换、以及有限差分变换中的至少一种对所述偏共振频率进行处理;
根据至少一个处理结果,确定稀疏性参数。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,根据至少一个处理结果,确定稀疏性参数,包括:
根据至少一个处理结果中所包含元素的绝对值之和,确定稀疏性参数。
6.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在根据所述估计相位差和所述实际相位差,分别确定各相邻回波时间的相位偏差之前,还包括:
根据相邻回波时间对应的参考图像的像素值,确定各相邻回波时间对应的相位差权重;
根据所述相位差权重,分别对所述估计相位差和所述实际相位差加权。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据各所述相位偏差构建所述相位偏差项,包括:
对各所述相位偏差加权求和,得到所述相位偏差项;
和/或,
根据各所述稀疏性参数构建所述稀疏性约束项,包括:
对各所述稀疏性参数加权求和,得到所述稀疏性约束项。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述相位偏差项和所述稀疏性约束项,得到以所述偏共振频率为自变量的目标函数,包括:
对所述相位偏差项与所述稀疏性约束项进行加权求和,得到以所述偏共振频率为自变量的目标函数。
9.根据权利要求1-8任一项所述的方法,其特征在于,根据所述目标函数确定所述参考图像对应的目标偏共振频率,包括:
根据初始偏共振频率,确定目标函数的函数值最小时所对应的偏共振频率;
将函数值最小时所对应的偏共振频率作为目标偏共振频率。
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