[发明专利]一种小型化抗高过载硅基微系统装置及其组装方法有效
申请号: | 201910360030.6 | 申请日: | 2019-04-30 |
公开(公告)号: | CN110054143B | 公开(公告)日: | 2021-08-31 |
发明(设计)人: | 王龙;支彦伟;李毅舟 | 申请(专利权)人: | 西安微电子技术研究所 |
主分类号: | B81B7/00 | 分类号: | B81B7/00;B81C1/00;B81C3/00 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 徐文权 |
地址: | 710065 陕西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 小型化 过载 硅基微 系统 装置 及其 组装 方法 | ||
本发明公开了一种小型化抗高过载硅基微系统装置及其组装方法,该装置区别与传统的硅基微系统封装方法,使得水平基板之间通过POP工艺堆叠,水平基板和垂直基板之间通过POP工艺封装,使得形成了立体封装结构;两个垂直基板一个设置在水平基板的后方,一个设置在水平基板的侧方,形成正交互联结构;基板之间通过树脂进行封装,同实现了基板上元件的有效的保护和灌封,该封装利用POP工艺堆叠和树脂封装,有效的解决了小型化技术及抗高过载的能力;该组装方法适用于小型化综合电子微系统控制模块,通用性高,易于操作,成本较低。
【技术领域】
本发明属于信息采集、数据处理和控制微系统集成领域,具体涉及一种小型化抗高过载硅基微系统装置及其组装方法。
【背景技术】
常用的微系统装置,目前还停留在单一功能集成的样品芯片上,工艺结构还基于板级和接插件的拼装,主要使用已封装器件,有大量空间闲置。采用常规拼装工艺集成的微系统装置不具备抗高过载冲击的能力,在高过载条件下容易造成基板断裂、板上芯片脱离,以及键和丝焊点分离,导致模块失效。以上问题限制了微系统装置小型化发展和抗高过载能力的提高。因此,需要在电路设计、工艺集成组装方式和整体灌封上采用新方法,来提高微系统装置小型化和抗高过载能力。
【发明内容】
本发明的目的在于克服上述现有技术的缺点,提供一种小型化抗高过载硅基微系统装置及其组装方法;该装置通过采用新的电气连接方法和灌封方式,使得有效解决了小型化技术及抗高过载的能力,适用于小型化综合电子微系统控制模块,通用性高,易于操作,成本较低。
为达到上述目的,本发明采用以下技术方案予以实现:
一种小型化抗高过载硅基微系统装置,包括:相互垂直的水平基板和竖直基板,水平基板从下到上依次包括金属复合基板、第一MCM-L基板、第二MCM-L基板、硅转接基板、第三MCM-L基板和第四MCM-L基板;金属复合基板和第一MCM-L基板固定连接,其余水平基板之间通过POP工艺堆叠;竖直基板包括第五MCM-L基板和第六MCM-L基板,第五MCM-L基板设置在水平基板的后方,第六MCM-L基板设置在水平基板的一侧;基板之间通过树脂进行封装。
本发明的进一步改进在于:
优选的,树脂优选为环氧树脂基封胶。
优选的,各个水平基板之间通过超声波键合飞线实现电气连接,所述飞线为硅铝丝或铝丝;第五MCM-L基板和第六MCM-L基板均通过挠性线路板和第四MCM-L基板连接。
优选的,金属复合基板上设置有栈式堆叠器、第一电容、第一电阻和电源芯片。
优选的,第二MCM-L基板上设置有基带处理芯片。
优选的,硅转接基板上设置有第二电容和FPGA板;硅转接基板上通过TSV工艺连接有玻璃转接基板,玻璃转接基板的下表面焊接有存储器。
优选的,第三MCM-L基板上设置有第三电容、三轴地磁传感器和AD转换器。
优选的,第四MCM-L基板、第五MCM-L基板和第六MCM-L基板上各自设置有单轴MEMS加计和单轴MEMS陀螺仪。
一种上述的小型化抗高过载硅基微系统装置的组装方法,包括以下步骤:
步骤1,在金属复合机基板上固定设置第一MCM-L基板,通过POP工艺在第一MCM-L基板上依次堆叠第二MCM-L基板、硅转接基板、第三MCM-L基板和第四MCM-L基板,完成水平基板的POP工艺堆叠;
步骤2,在水平基板的后方通过挠性线路板将第五MCM-L基板和第四MCM-L基板连接,在水平基板的一侧通过挠性连接带将第六MCM-L基板和第四MCM-L基板连接;
步骤3,通过树脂对基板之间进行灌封。
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