[发明专利]一种结构光测距方法、装置及计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种结构光测距方法，其特征在于，包括如下步骤：

以预设投影频率和采集频率，向待测空间投射结构光并采集多帧图像，所述多帧图像至少包括第一图像和第二图像，所述第一图像包括环境光信息，所述第二图像包括环境光信息和结构光信息；

将所述第一图像像素的第一灰度值与所述第二图像像素的第二灰度值进行比较；

当所述第一灰度值小于所述第二灰度值时，将所述第二图像像素的第二灰度值与所述第一图像像素的第一灰度值进行差分处理并获取差值，同时将所述差值作为当前第二图像像素的灰度值；当所述第一灰度值大于或等于所述第二灰度值时，将所述第二灰度值作为所述当前第二图像像素的灰度值；

计算所述当前第二图像的深度信息。

2.如权利要求1所述的结构光测距方法，其特征在于，还包括步骤：遍历并计算所述第一图像各个像素的灰度值与所述第二图像同一像素的灰度值，并将所述第一图像各个像素的灰度值与所述第二图像同一像素的灰度值逐个进行比较。

3.如权利要求1所述的结构光测距方法，其特征在于，还包括步骤：

将所述第一灰度值、所述第二灰度值分别与预设第一灰度值阈值进行比较；

当所述第一灰度值大于所述第一灰度值阈值时，对所述第一图像进行负曝光补偿；当所述第二灰度值大于所述第一灰度值阈值时，对所述第二图像进行负曝光补偿。

4.如权利要求1所述的结构光测距方法，其特征在于，还包括步骤：

将所述第一灰度值、所述第二灰度值分别与预设第二灰度值阈值进行比较；

当所述第一灰度值小于所述预设第二灰度值阈值时，对所述第一图像进行正曝光补偿；当所述第二灰度值小于所述预设第二灰度值阈值时，对所述第二图像进行正曝光补偿。

5.如权利要求1所述的结构光测距方法，其特征在于，所述投影频率与所述采集频率比值范围包括[1/2,1)。

6.一种结构光测距装置，其特征在于，包括：

投影模组：以预设投影频率向待测空间投射多帧图像，其中，所述多帧图像至少包括第一图像和第二图像，所述第一图像包括环境光信息，所述第二图像包括环境光信息和结构光信息；

采集模组：以预设采集频率采集所述多帧图像；

处理器：分别与所述投影模组和所述采集模组连接，用于控制所述投影模组和所述采集模组的正常工作，以及

用于接收所述第一图像与所述第二图像，并将所述第一图像像素的第一灰度值与所述第二图像像素的第二灰度值进行比较；

用于当所述第一灰度值小于所述第二灰度值时，将所述第二图像像素的第二灰度值与所述第一图像像素的第一灰度值进行差分处理并获取差值，同时将所述差值作为当前第二图像像素的灰度值；当所述第一灰度值大于或等于所述第二灰度值时，将所述第二灰度值作为所述当前第二图像像素的灰度值；

用于计算所述当前第二图像的深度信息。

7.如权利要求6所述的结构光测距装置，其特征在于，所述处理器还用于遍历并计算所述第一图像各个像素的灰度值与所述第二图像同一像素的灰度值，并将所述第一图像各个像素的灰度值与所述第二图像同一像素的灰度值逐个进行比较。

8.如权利要求6所述的结构光测距装置，其特征在于，所述处理器还用于将所述第一灰度值、所述第二灰度值分别与预设第一灰度值阈值进行比较；

当所述第一灰度值大于所述第一灰度值阈值时，对所述第一图像进行负曝光补偿；当所述第二灰度值大于所述第一灰度值阈值时，对所述第二图像进行负曝光补偿。

9.如权利要求6所述的结构光测距装置，其特征在于，所述处理器还用于将所述第一灰度值、所述第二灰度值分别与预设第二灰度值阈值进行比较；

当所述第一灰度值小于所述预设第二灰度值阈值时，对所述第一图像进行正曝光补偿；当所述第二灰度值小于所述预设第二灰度值阈值时，对所述第二图像进行正曝光补偿。

10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1～5任一项所述方法的步骤。