[发明专利]检测涂层材料拉伸裂变的方法和系统

权利要求书

1.一种检测涂层材料拉伸裂变的方法，其特征在于，涂层材料和拉伸机放置在扫描电子显微镜的样品仓中，所述方法包括：

预估所述涂层材料的拉伸阶段；

根据所述拉伸阶段调节所述拉伸机的拉伸速率；

采集所述涂层材料在拉伸过程中的扫描图像；以及

通过数字图像相关法对所述扫描图像进行处理，并根据处理后的所述扫描图像分析所述涂层材料的拉伸裂变。

2.根据权利要求1所述的检测涂层材料拉伸裂变的方法，其特征在于，所述拉伸阶段包括裂变安全期和裂变发生期，所述根据所述拉伸阶段调节所述拉伸机的拉伸速率，包括：在所述裂变发生期减小所述拉伸机的拉伸速率。

3.根据权利要求1所述的检测涂层材料拉伸裂变的方法，其特征在于，所述拉伸阶段包括裂变安全期和裂变发生期，所述涂层材料所在的试样基体的弹性模量大于预设模量阈值，所述根据所述拉伸阶段调节所述拉伸机的拉伸速率，包括：

在所述裂变安全期控制所述拉伸机以第一速率对所述涂层材料进行拉伸；

在所述裂变发生期控制所述拉伸机以第二速率对所述涂层材料进行拉伸，其中，所述第二速率小于所述第一速率。

4.根据权利要求1所述的检测涂层材料拉伸裂变的方法，其特征在于，所述涂层材料分别喷涂在两个试样基体上，其中，一个试样基体上的涂层材料的上表面作为扫描面，另一个试样基体上的涂层材料的侧面作为扫描面，所述采集所述涂层材料在拉伸过程中的扫描图像，包括：

采集在拉伸或压缩过程中所述涂层材料上表面的扫描图像，以及，采集在拉伸过程中所述涂层材料侧面的扫描图像。

5.根据权利要求1所述的检测涂层材料拉伸裂变的方法，其特征在于，在将所述涂层材料放置在所述样品仓之前，所述方法还包括：

通过纳米压印工艺在所述涂层材料的扫描面上标记散斑。

6.一种检测涂层材料拉伸裂变的系统，其特征在于，所述系统包括：

拉伸机，用于对涂层材料施加力以拉伸所述涂层材料；

扫描电子显微镜，所述涂层材料和所述拉伸机放置在所述扫描电子显微镜的样品仓中，所述扫描电子显微镜用于采集所述涂层材料在拉伸或压缩过程中的扫描图像；

处理装置，用于预估所述涂层材料的拉伸阶段，根据所述拉伸阶段调节所述拉伸机的拉伸速率，并通过数字图像相关法对所述扫描图像进行处理，根据处理后的所述扫描图像分析所述涂层材料的拉伸裂变。

7.根据权利要求6所述的检测涂层材料拉伸裂变的系统，其特征在于，所述拉伸阶段包括裂变安全期和裂变发生期，所述处理装置在根据所述拉伸阶段调节所述拉伸机的拉伸速率时具体用于，在所述裂变发生期减小所述拉伸机的拉伸速率。

8.根据权利要求6所述的检测涂层材料拉伸裂变的系统，其特征在于，所述拉伸阶段包括裂变安全期和裂变发生期，所述涂层材料所在的试样基体的弹性模量大于预设模量阈值，所述处理装置在根据所述拉伸阶段调节所述拉伸机的拉伸速率时具体用于，在所述裂变安全期控制所述拉伸机以第一速率对所述涂层材料进行拉伸，以及，在所述裂变发生期控制所述拉伸机以第二速率对所述涂层材料进行拉伸，其中，所述第二速率小于所述第一速率。

9.根据权利要求6所述的检测涂层材料拉伸裂变的系统，其特征在于，

所述涂层材料分别喷涂在两个试样基体上，其中，一个试样基体上的涂层材料的上表面作为扫描面，另一个试样基体上的涂层材料的侧面作为扫描面；

所述扫描电子显微镜在扫描图像时具体用于，采集在拉伸过程中所述涂层材料上表面的扫描图像，以及，采集在拉伸过程中所述涂层材料侧面的扫描图像。

10.根据权利要求6所述的检测涂层材料拉伸裂变的系统，其特征在于，所述系统还包括标记装置，所述标记装置用于在将所述涂层材料放置在所述样品仓之前，通过纳米压印工艺在所述涂层材料的扫描面上标记散斑。