[发明专利]一种基于测试向量乱序和丢弃行为的验证方法

说明书

本发明揭示了一种基于测试向量乱序和丢弃行为的验证方法，乱序包括调度乱序和流水线乱序，所述验证方法包括：S1，基于测试向量分组法的调度乱序验证过程；S2，基于测试向量特征值的流水线乱序验证过程；S3，基于测试向量特征值的丢弃验证过程。本发明有效地解决了芯片测试中测试向量乱序和丢弃所引起的记分板比对失效的问题，同时，解决了传统方法中带来的参考模型复杂度高，与DUT过于耦合等问题。

技术领域

本发明涉及一种芯片测试技术，尤其是涉及一种基于测试向量乱序和丢弃行为的验证方法。

背景技术

当前的测试流程和技术中，存在由于测试向量乱序和丢弃导致DUT(design undertest，待测设计)输出结果与参考模型输出结果无法一一比对的问题。

针对上述问题，通常要求参考模型严格参照DUT设计架构，通过模拟DUT的乱序和丢弃行为从而达到两者输出结果的一致性。但是这种方案存在以下缺点：1、DUT的设计架构复杂程度直接影响到参考模型的复杂程度；2、验证人员很容易跟着设计人员的思路去设计用于测试的参考模型，存在测试盲区；3、DUT和参考模型，两者耦合性过高，DUT设计架构的一点点改动可能导致现有参考模型的不可用；4、面对特别复杂和特殊的设计来说，参考模型存在无法完全模拟的情况，需要偷取DUT内部信号作为部分逻辑的启动条件，而这些被偷取的信号便存在测试遗漏的风险。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种基于测试向量乱序和丢弃行为的验证方法。

为实现上述目的，本发明提出如下技术方案：一种基于测试向量乱序和丢弃行为的验证方法，所述乱序包括调度乱序和流水线乱序，所述验证方法包括：

S1，基于测试向量分组法的调度乱序验证过程；

S2，基于测试向量特征值的流水线乱序验证过程；

S3，基于测试向量特征值的丢弃验证过程。

优选地，所述S1包括：

S11，记分板将接收的参考模型的测试向量分组，存入对应的队列中；

S12，记分板在接收到DUT的测试向量后，从所述队列中找到需要比较的测试向量，进行DUT的测试向量和参考模型的测试向量的比较。

优选地，S11中，记分板按照调度算法的基准将参考模型的测试向量分组，所述调度算法的基准包括通道号、优先级标识。

优选地，记分板从所述DUT的测试向量中找到对应的队列标识，所述队列标识包括通道号、优先级标识，根据所述队列标识从队列中取出对应需要比较的参考模型的测试向量。

优选地，所述S2包括：

S21，激励发生器产生测试向量时，为每个所述测试向量插入一个唯一标识所述向量的向量特征值；

S22，从参考模型的乱序队列或普通队列中取出需要比较的测试向量，将所述测试向量与DUT输出的测试向量中的所述向量特征值比较，确认这两个测试向量是否匹配；

S23，若匹配通过，则进一步比较DUT输出的测试向量中除向量特征值外的其他内容，进入步骤S24，若匹配不通过，则将参考模型输出的测试向量存储到乱序队列中；

S24，若比较通过，则进行DUT输出的下一测试向量的比较，并返回步骤S22，否则测试不通过，仿真停止。

优选地，所述S22包括：

S221，判断乱序队列是否为空，若不为空，则从乱序队列中取出需要比较的测试向量，若为空，则进入步骤S222；

S222，判断普通队列是否为空，若不为空，则从普通队列中取出需要比较的测试向量，若为空，则仿真异常退出；