[发明专利]一种测量爆轰驱动下飞片姿态的阶梯支架型探针元件及其测试方法有效
申请号: | 201910373412.2 | 申请日: | 2019-05-07 |
公开(公告)号: | CN110057659B | 公开(公告)日: | 2021-08-10 |
发明(设计)人: | 李晓杰;李科斌;闫鸿浩;王小红;王宇新;孙明;曾翔宇;陈翔;王健 | 申请(专利权)人: | 大连理工大学 |
主分类号: | G01N3/02 | 分类号: | G01N3/02;G01N3/313 |
代理公司: | 大连理工大学专利中心 21200 | 代理人: | 温福雪;侯明远 |
地址: | 116024 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测量 驱动 下飞片 姿态 阶梯 支架 探针 元件 及其 测试 方法 | ||
1.一种测量爆轰驱动下飞片姿态的阶梯支架型探针元件(10),其特征在于,所述的阶梯支架型探针元件(10)的主体结构为阶梯形支架(4),包括上台阶面、倾斜面和下台阶面,上台阶面和下台阶面之间由倾斜面过渡 连接为一体;阶梯形支架(4)的上台阶面、倾斜面和下台阶面的表面从外到内依次敷设屏蔽层(3)和齿状结构层(2);
对折的漆包电阻丝(1)沿齿状结构层(2)铺设,从上台阶面延伸至下台阶面,并从下台阶面末端引至侧面形成两个输出端(5);利用导电薄膜作为屏蔽层(3),将漆包电阻丝(1)包覆固定;
齿状结构层(2)为上部为齿状的导电结构。
2.根据权利要求1所述的阶梯支架型探针元件(10),其特征在于,所述的齿状结构层(2)的齿距为0.05~0.2mm,齿高与漆包电阻丝(1)外部的漆包层厚度比为5~20;齿状结构层(2)采用金属丝网、碳化钨颗粒或具有一定粗糙度的颗粒状导电涂层。
3.根据权利要求1或2所述的阶梯支架型探针元件(10),其特征在于,所述的阶梯形支架(4)的厚度为1~20mm;所述的倾斜面与水平面的夹角在10°~80°之间;所述的上台阶面和下台阶面的阶梯高度差为0.5~1.5倍装药厚度。
4.根据权利要求1或2所述的阶梯支架型探针元件(10),其特征在于,所述的阶梯形支架(4)的材料选自金属和硬质有机物。
5.一种用阶梯支架型探针元件(10)测量爆轰驱动下飞片姿态的方法,其特征在于,步骤如下:
步骤1:将阶梯支架型探针元件(10)沿爆轰波前进方向粘贴固定于待测飞片的外表面,其上台阶一侧朝向起爆端,利用同轴电缆(12)使阶梯支架型探针元件(10)的输出端(5)与信号采集仪(13)相连,接口处使用屏蔽层(3) 包覆;
步骤2:在待测飞片上铺设或填充炸药(7),起爆端插入雷管(6);
步骤3:开启信号采集仪(13)并设置试验参数后起爆炸药,通过信号采集仪(13)记录阶梯支架型探针元件(10)的电阻值变化引起的电压或电流信号曲线;
步骤4:将电信号换算为电阻丝导通的时程曲线,利用阶梯支架型探针元件(10)上台阶面电阻丝的数据获得炸药的爆速,利用倾斜面电阻丝的数据计算飞片的飞行轨迹,利用下台阶面电阻丝的数据获得炸药的对比爆速。
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