[发明专利]一种检测修复装置及检测修复方法有效
申请号: | 201910374057.0 | 申请日: | 2019-05-05 |
公开(公告)号: | CN110112080B | 公开(公告)日: | 2021-04-27 |
发明(设计)人: | 刘世奇 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H01L51/50;H01L51/56 |
代理公司: | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人: | 黄威 |
地址: | 518132 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 检测 修复 装置 方法 | ||
本发明提供一种检测修复装置及检测修复方法,该检测修复装置包括:载台,用于放置显示面板,所述载台上设置有多个检测孔;其中所述显示面板的截面结构包括阳极、有机发光层以及阴极,所述显示面板包括阴极输入端和阳极输入端;上盖,与所述载台可活动连接,所述上盖设于所述阴极上,所述上盖上设置有第一检测端子和第二检测端子,所述第一检测端子与所述阳极输入端连接,所述第二检测端子与所述阴极输入端连接;检测模块,用于通过所述检测孔检测显示面板是否存在暗点;修复模块,用于当所述显示面板存在暗点时,对所述显示面板的暗点进行修复。本发明的检测修复装置及检测修复方法,能够提高生产效率。
【技术领域】
本发明涉及显示技术领域,特别是涉及一种检测修复装置及检测修复方法。
【背景技术】
目前大尺寸的有机发光二极管显示面板的有机发光层通过蒸镀工艺进行制备,但是由于蒸镀过程中的尘粒(particle)难以管控,容易引起阴阳极短路,造成暗点缺陷。
然而,现有的检测装置是在显示面板的封装层制作完成后,才进行暗点的检测,如果此时发现暗点,需要将封装层去除后才能进行修复,过程较为复杂,降低了生产效率。
因此,有必要提供一种检测修复装置及检测修复方法,以解决现有技术所存在的问题。
【发明内容】
本发明的目的在于提供一种检测修复装置及检测修复方法,能够提高生产效率。
为解决上述技术问题,本发明提供一种检测修复装置,其包括:
载台,用于放置显示面板,所述载台上设置有多个检测孔;其中所述显示面板的截面结构包括阳极、有机发光层以及阴极,所述显示面板包括阴极输入端和阳极输入端;
上盖,与所述载台可活动连接,所述上盖设于所述阴极上,所述上盖上设置有第一检测端子和第二检测端子,所述第一检测端子与所述阳极输入端连接,所述第二检测端子与所述阴极输入端连接;
检测模块,用于通过所述检测孔检测显示面板是否存在暗点;
修复模块,用于当所述显示面板存在暗点时,对所述显示面板的暗点进行修复。
本发明还提供一种检测修复方法,其中所述检测修复装置包括:
载台,用于放置显示面板,所述载台上设置有多个检测孔;其中所述显示面板的截面结构包括阳极、有机发光层以及阴极,所述显示面板包括阴极输入端和阳极输入端;
上盖,与所述载台可活动连接,所述上盖设于所述阴极上,所述上盖上设置有第一检测端子和第二检测端子,所述第一检测端子与所述阳极输入端连接,所述第二检测端子与所述阴极输入端连接;
检测模块,用于通过所述检测孔检测显示面板是否存在暗点;
修复模块,用于当所述显示面板存在暗点时,对所述显示面板的暗点进行修复;
所述方法包括:
在所述第一检测端子施加正电压,在所述第二检测端子施加负电压;
检测所述显示面板是否存在暗点;
若检测到所述显示面板存在暗点,获取所述暗点的位置;
在所述第一检测端子施加负电压,在所述第二检测端子施加正电压;
对与所述暗点位置对应的阴极进行氧化,以对暗点进行修复。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
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