[发明专利]显示基板的检测方法及系统

说明书

本申请公开了一种显示基板的检测方法及系统，属于显示技术领域。该方法包括：获取相机拍摄的包含显示基板所显示的画面的图像；基于图像中与每个灯珠对应的灯珠图像的图像信息，确定异常的灯珠图像；基于异常的灯珠图像在图像中的位置信息，确定显示基板中异常的灯珠的位置信息。无需在显示基板中设置检测单元，便能够实现对异常的灯珠的位置进行检测，简化了显示基板的结构，从而提高了该显示基板的制造效率和维护效率。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，特别涉及一种显示基板的检测方法及系统。

背景技术

随着发光二极管(英文：Light Emitting Diode；简称：LED)显示技术的发展，LED显示基板因其具有能耗低、色彩还原性强寿命长等特点，已经广泛地应用于各种场合。LED显示基板具有用于显示画面的阵列排布的多个灯珠，该灯珠通常也称为LED灯珠。

目前，在LED显示基板出厂前需要对该LED显示基板进行检测，确定该LED显示基板中故障的灯珠的位置，以便后续对该故障的灯珠进行维修。

为了实现对LED显示基板的检测，需要在该LED显示基板中设置检测单元，通过该检测单元确定LED显示基板中的出现故障灯珠的位置。因此，目前的LED显示基板中需要设置额外的检测单元，导致LED显示基板的结构较为复杂。

发明内容

本申请实施例提供了一种显示基板的检测方法及系统。可以解决现有技术的LED显示基板的结构较为复杂的问题，所述技术方案如下：

一方面，提供了一种显示基板的检测方法，所述方法包括：

获取相机拍摄的包含所述显示基板所显示的画面的图像，所述显示基板具有用于显示画面的阵列排布的多个灯珠；

基于所述图像中与每个所述灯珠对应的灯珠图像的图像信息，确定异常的灯珠图像；

基于所述异常的灯珠图像在所述图像中的位置信息，确定所述显示基板中异常的灯珠的位置信息。

可选的，基于所述图像中与每个所述灯珠对应的灯珠图像的图像信息，确定异常的灯珠图像，包括：

基于所述图像中的灯珠图像的图像信息，确定正常的灯珠图像的轮廓的正常尺寸范围；

基于所述正常尺寸范围，在所述图像中确定所述异常的灯珠图像。

可选的，基于所述正常尺寸范围，在所述图像中确定所述异常的灯珠图像，包括：

基于所述正常尺寸范围，以及所述显示基板的物理信息，确定正常间距范围，所述正常间距范围为任意两个相邻的正常的灯珠图像中一个灯珠图像的中心与另一个灯珠图像的轮廓之间的最小距离范围，所述显示基板的物理信息包括：所述显示基板的实际尺寸信息、所述显示基板的分辨率，以及所述显示基板中任意两个相邻的灯珠间距；

基于所述正常间距范围，在所述图像中确定所述异常的灯珠图像。

可选的，所述正常间距范围，在所述图像中确定所述异常的灯珠图像，包括：

基于所述正常间距范围，按照设定顺序对所述图像中的每个灯珠图像执行检测过程；

其中，对于每个所述灯珠图像，所述检测过程包括：

检测当前灯珠图像之前是否存在与所述当前灯珠图像相邻且正常的参考灯珠图像；

若所述当前灯珠图像之前存在所述参考灯珠图像，当所述参考灯珠图像的中心与所述当前灯珠图像的轮廓之间的最小间距在所述正常间距范围外时，确定所述当前灯珠图像为异常的灯珠图像。

可选的，所述检测过程还包括：