[发明专利]一种快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法

说明书

一种快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法，S1：将N个元器件串联，N为大于等于2的正整数；S2：测试N个元器件的串联电压为V1；S3：N个元器件正常电压范围(Vmin Vmax），且Vmin小于Vmax；如果V1小于Vmin，则串联的N个元器件均不合格；如果V1大于Vmax，则串联的N个元器件均不合格；如果V1大于或等于Vmin，且V1小于或等于Vmax，则串联的N个元器件均合格；能够快速检测串联或并联的多个元器件电连接后的串联电压或并联电流是否合格，提高多元器件经过电连接后的测试效率。

技术领域

本发明涉及一种快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法。

背景技术

对于电连接的多元器件测试，采用常规的单个元器件测试效率很低且无必要，在将多个元器件电连接前就进行了单个元器件测试；电连接的多元器件由于连接加工工艺差异，使多个元器件串联的电压并不一定等于单个元器件电压之和，多个并联的元器件电流之和并不等于单个元器件电流之和；这种实际串联电压与理论串联电压的误差太大会影响该串联的多个元器件的组合使用寿命；所述实际并联的电流之和与理论电流之和之间的误差会影响并联元器件的使用寿命。

发明内容

为解决多元器件电连接对使用寿命造成不良影响的问题，本发明提出一种快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法。

本发明的技术方案为：一种快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法，

S1：将N个元器件串联，N为大于等于2的正整数；

S2：测试N个元器件的串联电压为V1；

S3：N个元器件正常电压范围(Vmin Vmax），且Vmin小于Vmax；如果V1小于Vmin，则串联的N个元器件均不合格；如果V1大于Vmax，则串联的N个元器件均不合格；如果V1大于或等于Vmin，且V1小于或等于Vmax，则串联的N个元器件均合格。

进一步的，当如果V1小于Vmin或者V1大于Vmax，还包括，

S4：将上述N个元器件按串联顺序分成两组分别为：N1个元器件和N2个元器件，即N1+N2=N；所述N1个元器件串联测试电压为V2，N1个元器件正常电压范围为（Vmin1 Vmax2），如果V2小于Vmin1，则N1个串联的元器件不合格；如果V2大于Vmax2，则N1个串联的元器件不合格；如果V2大于或等于Vmin1，且V2小于或等于Vmax2，则则N1个串联的元器件合格；所述N2个元器件串联测试电压为V3，N2个元器件正常电压范围为（Vmin3 Vmax4），如果V3小于Vmin3，则N2个串联的元器件不合格；如果V3大于Vmax4，则N2个串联的元器件不合格；如果V3大于或等于Vmin3，且V3小于或等于Vmax4，则N2个串联的元器件合格。

进一步的，串联的N个元器件为电参数要求一致的元器件，即每个元器件电压范围均要求为（Va Vb），Va小于Vb；则N*Va=Vmin，N*Vb=Vmax。

进一步的，所述多元器件为多个LED灯珠；所述N大于等于5，且N小于等于15。

进一步的，当串联的N个元器件不合格，N1和N2均合格时，需要将串联的N1个元器件和串联的N2个元器件分开使用，对于串联的N个元器件不可分拆时，则判定串联的N个元器件不合格。

一种快速判断多元器件电连接是否合格的测试方法，

S1：将M个元器件并联，M为大于等于2的正整数；

S2：测试M个元器件的并联电流为I1；