[发明专利]一种目标物的系列X光像的坐标对应方法有效
申请号: | 201910376664.0 | 申请日: | 2019-05-05 |
公开(公告)号: | CN110097597B | 公开(公告)日: | 2022-02-11 |
发明(设计)人: | 江少恩;任宽;曹柱荣;董建军;杨志文;杨家敏;王峰;张保汉;丁永坤 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
主分类号: | G06T7/66 | 分类号: | G06T7/66;G06T7/68;G06T7/246 |
代理公司: | 中国工程物理研究院专利中心 51210 | 代理人: | 翟长明;韩志英 |
地址: | 621999 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 目标 系列 坐标 对应 方法 | ||
1.一种目标物的系列X光像的坐标对应方法,其特征在于,所述的方法包括以下步骤:
a.记录目标物的系列X光像,将每幅X光像中的各记录单元记录的X光强度求和,获得每幅X光总强度,得到A;
b.将每幅X光像中的各记录单元的X光强度与对应的二维坐标相乘,并求和,得到B;
c.C=B/A,得出每幅X光像的光强重心坐标;
d.利用系列X光像中的每幅X光像的光强重心坐标相对应的属性,给出系列X光像中的每幅X光像的二维坐标对应关系。
2.根据权利要求1所述的目标物的系列X光像的坐标对应方法,其特征在于,所述的X光像为由针孔、Kirkpatrick–Baez镜或弯晶成像器件中的一种所成的X光像。
3.根据权利要求1所述的目标物的系列X光像的坐标对应方法,其特征在于,所述的系列X光像包括针对同一个目标物在不同方位记录的X光像,或者在不同时间段记录的X光像。
4.根据权利要求1~3任一所述的目标物的系列X光像的坐标对应方法,其特征在于,所述的坐标对应方法应用于惯性约束聚变、实验室天体物理或高能量密度物理中的目标物X光像数据处理。
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