[发明专利]位置相关非接触式电压和电流测量

权利要求书

1.一种电参数测量设备，包括：

前端，所述前端包括开口，所述开口的大小和尺寸设定成接纳被测导体；

多个导电传感器，所述多个导电传感器被定位成靠近所述前端；

一个或多个参考电压源，所述一个或多个参考电压源耦接到所述多个导电传感器，所述一个或多个参考电压源操作以在所述导电传感器中的每一个中输出参考电压；

控制电路系统，所述控制电路系统通信地耦接到所述一个或多个参考电压源和所述多个导电传感器，其中所述控制电路系统在操作中：

控制所述一个或多个参考电压源以在所述导电传感器中的每一个中输出参考电压；

对于所述导电传感器中的每一个，当所述相应参考电压源在所述导电传感器中输出所述参考电压并且所述被测导体定位在所述电参数测量设备的所述前端的所述开口中时，获得指示由所述导电传感器测量的参考信号的参考电流信号数据点；并且

至少部分地基于针对所述多个导电传感器中的每一个获得的所述参考电流信号数据点来确定待应用于所述被测导体的电参数测量结果的校准因子。

2.根据权利要求1所述的电参数测量设备，其中所述控制电路系统在操作中将所确定的校准因子应用于所述电参数测量结果，以生成校准的电参数测量结果。

3.根据权利要求1所述的电参数测量设备，其中所述电参数测量结果包括电压、电流或功率中的一者或多者。

4.根据权利要求1所述的电参数测量设备，其中所述多个导电传感器包括两个或三个导电传感器。

5.根据权利要求1所述的电参数测量设备，其中所述电参数测量设备包括非接触式电压测量设备、电流钳或分裂铁芯式变压器。

6.根据权利要求1所述的电参数测量设备，其中所述控制电路系统在操作中使用所述参考电流信号数据点在多个先前确定的校准点之间内插，以确定待应用于所述电参数测量结果的所述校准因子。

7.根据权利要求1所述的电参数测量设备，其中所述控制电路系统在操作中将所述参考电流信号数据点输入到先前确定的校准公式中，以确定待应用于所述电参数测量结果的所述校准因子。

8.根据权利要求1所述的电参数测量设备，其中所述多个导电传感器被定位成靠近所述电参数测量设备的所述前端，由此使得对于针对所述多个导电传感器获得的每一组参数电流信号数据点，所述控制电路系统确定所述被测导体的单个位置。

9.根据权利要求8所述的电参数测量设备，其中所述控制电路系统至少部分地基于所确定的所述被测导体的所述单个位置来确定所述校准因子。

10.根据权利要求1所述的电参数测量设备，其中所述多个导电传感器中的至少两个彼此共面。

11.根据权利要求1所述的电参数测量设备，其中所述多个导电传感器中的每一个具有长度尺寸和宽度尺寸，并且所述长度尺寸大于所述宽度尺寸。

12.根据权利要求1所述的电参数测量设备，其中所述控制电路系统在操作中确定所述参考电流信号数据点中的每一个的校准因子。

13.根据权利要求12所述的电参数测量设备，其中所述控制电路系统在操作中确定所述参考电流信号数据点中的每一个的所述校准因子的加权组合以用作所述校准因子。

14.根据权利要求13所述的电参数测量设备，其中所述加权组合包括线性加权组合或指数加权组合中的至少一者。