[发明专利]一种基于电阻率等值性原理的电磁测深约束反演方法

权利要求书

1.一种基于电阻率等值性原理的电磁测深约束反演方法，其特征在于，包括以下步骤：

a、假设一次反演的结果为m，对其正演响应求层厚的导数，将负的导数值作归一化处理，正的导数值取0，得到∆m；

b、将∆m作为各层S等值性收敛算法中ε对应的系数；

c、利用S等值性进行低阻薄层收敛，通过式1迭代求得式2；通过反演的数据解出第m层Z_m、h_m和ρ_m，按∆的速度逐渐减小h_m的值，每减小一次h_m的值便迭代计算出唯一对应的ρ_m，直到h_m和ρ_m的值满足式1，收敛结束，得到收敛后的薄层电阻率和薄层厚度；

式1

其中， f为模型响应函数，h_m为第m层的厚度，为第m层的厚度变化量，ρ_m为第m层的电阻率，为第m层的电阻率变化量，ε为收敛程度；

式2

其中，ρ_m为第m层的电阻率，Z_m为第m层顶界面的波阻抗，i为虚数，ω为角频率，μ为磁导率，Z_m+1为第m+1层顶界面的波阻抗，Z_0m为第m层介质的特征阻抗，e为自然对数的底数，k_m为第m层的复波数，h_m为第m层的厚度，Δ为参数改变的百分比；

d、利用H等值性进行高阻薄层厚度补偿，将低阻薄层减少的厚度的1/2加到上层高阻薄层中，随后再次利用式2进行迭代，求得高阻薄层的电阻率。

2.根据权利要求1所述的一种基于电阻率等值性原理的电磁测深约束反演方法，其特征在于：所述步骤a中，根据响应对层厚的导数进行智能识别搜索，若某一层为低阻薄层，响应对层厚的导数即为负数，若为高阻薄层，响应对层厚的导数即为正数。

3.根据权利要求1所述的一种基于电阻率等值性原理的电磁测深约束反演方法，其特征在于：所述步骤d中，高阻薄层厚度补偿具体是指低阻薄层收敛后，厚度减少，埋深变浅，将低阻薄层变薄的厚度补偿到上层围岩厚度，厚度补偿采用低阻薄层减少的厚度的1/2，使反演后的低阻薄层仍处于原低阻薄层中间。