[发明专利]PET扫描仪校正方法、装置、计算机设备和可读存储介质

说明书

本发明涉及一种PET扫描仪校正方法、装置、计算机设备和可读存储介质，该方法包括：获得实际符合事件计数和；实际符合事件计数和是根据探测器对移动到各位置的均匀模体进行扫描所得到的各位置的扫描数据确定；均匀模体的长度小于PET扫描仪的轴向视野长度；获得理论符合事件计数和；理论符合事件计数和为均匀模体沿PET扫描仪视野的轴向移动到各位置的理论符合事件计数值的累加和；根据理论符合事件计数和以及实际符合事件计数和，确定归一化校正系数；归一化校正系数用于对探测器的探测效率进行校正。该方法解决了传统技术中当探测器的轴向视野大于均匀模体的长度时，无法对探测器的探测效率进行校正的问题。

技术领域

本发明涉及图像处理技术领域，特别是涉及一种PET扫描仪校正方法、装置、计算机设备和可读存储介质。

背景技术

正电子发射计算机断层显像(Positron Emission Computed Tomography,PET)是临床上应用广泛的一种无创核医学影像诊断技术。为得到无伪影且定量准确的PET重建图像，需要对PET系统中探测器的探测效率及由探测器对所组成的响应线的探测效率进行校正，即归一化校正。

现有技术中，对探测器的探测效率进行校正时，均匀模体的长度需要覆盖PET系统中探测器的轴向视野，使得各探测器受到近似相同强度的伽马光照射。通过各探测器在一段时间内对均匀模体进行扫描的扫描数据，得到在均匀模体覆盖探测器轴向视野范围情况下的实际符合事件计数和。进一步的，根据实际符合事件计数和以及该均匀模体在覆盖探测器轴向视野范围情况下的理论符合事件计数和得到归一化校正系数，并根据得到的归一化校正系数对探测器的探测效率进行校正。

但是，上述对探测器的探测效率进行校正方法只适用于均匀模体能够覆盖探测器轴向视野的情况，当探测器的轴向视野大于均匀模体的长度时，存在无法对探测器的探测效率进行校正的问题。

发明内容

基于此，有必要针对现有技术中当探测器的轴向视野大于均匀模体的长度时，存在无法对探测器的探测效率进行校正的问题，提供一种PET扫描仪校正方法、装置、计算机设备和可读存储介质。

第一方面，本发明实施例提供一种PET扫描仪校正方法，所述方法包括：

获得实际符合事件计数和；所述实际符合事件计数和是根据所述探测器对移动到各位置的所述均匀模体进行扫描所得到的各位置的扫描数据确定；所述均匀模体的长度小于PET扫描仪的轴向视野长度；

获得理论符合事件计数和；所述理论符合事件计数和为所述均匀模体沿所述PET扫描仪视野的轴向移动到各位置的理论符合事件计数值的累加和；

根据所述理论符合事件计数和以及所述实际符合事件计数和，确定归一化校正系数；所述归一化校正系数用于对所述探测器的探测效率进行校正。

在其中一个实施例中，所述获得实际符合事件计数和，包括：

获取所述探测器对移动到各位置的所述均匀模体进行扫描所得到的各位置的扫描数据；

根据各位置的扫描数据，确定各所述位置的实际符合事件计数值；

对各位置的实际符合事件计数值进行累加，得到所述实际符合事件计数和。

在其中一个实施例中，所述获得理论符合事件计数和，包括：

根据所述均匀模体的几何参数、各位置的位置信息和各所述位置的扫描时长进行预测，得到各所述位置的理论符合事件计数值；

对各位置的理论符合事件计数值进行累加，得到所述理论符合事件计数和；所述理论符合事件计数和对应的各位置与所述实际符合事件计数和对应的各位置一一对应。

在其中一个实施例中，所述方法还包括：