[发明专利]用于对RF线圈进行质量分析的方法和磁共振成像设备

权利要求书

1.一种用于对磁共振成像设备(1)的RF线圈(3)进行质量分析(QA)的方法，其中，在工作模式下，RF线圈(3)被设计为用于从要观察的对象获取MR信号，所述方法在测试模式下包括：

-由RF发射器(5)发射测试信号(20)，

-由RF线圈(3)直接接收来自RF发射器(5)的测试信号(20)，其中，RF线圈(3)提供输出信号(21)，其中所述输出信号是电信号，以及

-通过分析RF线圈(3)的输出信号(21)提供性能指示(11)，以进行质量分析，

其特征在于，在接收测试信号(20)期间，

-使RF线圈(3)调谐和/或失谐，和/或

-激活磁共振成像设备(1)的另外的部件。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，将输出信号(21)和/或性能指示(11)与参考值(22)进行比较。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，参考值(22)对应于

-基于磁共振成像设备(1)初始化期间的测量的值，和/或

-基准值。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其中，为了提供性能指示(1 1)，检测输出信号(21)的幅值和/或输出信号(21)的幅值的时间相关性。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其中，测试信号(20)包括几个频率或者扫频。

6.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其中，磁共振成像设备(1)包括孔(2)，其中，在测试模式下，孔(2)没有要观察的对象、MR试样和/或模型体。

7.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其中，磁共振成像设备(1)的另外的部件是放大器(4)和/或梯度线圈(8)。

8.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其中，将几个RF线圈(3)布置在孔(2)内，其中，每个RF线圈(3)接收来自RF发射器(5)的测试信号(20)，其中，RF线圈分别提供输出信号(21)，以及

-通过分析RF线圈(3)的输出信号(21)提供性能指示(11)，以进行质量分析。

9.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其中，测试信号(20)包括具有斜坡形状或者矩形形状的RF脉冲。

10.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其中，由RF线圈(3)和另一个RF接收器(13)接收测试信号(20)，以比较RF线圈的输出信号(21)和所述另一个RF接收器(13)的另外的输出信号(23)。

11.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其中，RF发射器(5)是磁共振成像设备(1)的身体线圈或者附加的RF发射器。

12.一种用于对RF线圈进行质量分析的设备，其中，所述设备包括RF发射器、处理器和RF线圈，其中，所述设备被配置为用于

-由RF发射器(5)发射测试信号(20)，

-由RF线圈(3)直接接收来自RF发射器(5)的测试信号(20)，其中，RF线圈提供输出信号(21)，其中所述输出信号是电信号，以及

-通过分析RF线圈(3)的输出信号(21)提供性能指示(11)，以进行质量分析，

其特征在于，所述设备还被配置为用于在接收测试信号(20)期间

-使RF线圈(3)调谐和/或失谐，和/或

-激活磁共振成像设备(1)的另外的部件。

13.一种计算机可读介质，其上存储有计算机单元能够读取并且执行的程序元件，以便在所述计算机单元执行所述程序元件时，执行根据权利要求1至11中任一项所述的方法的步骤。