[发明专利]一种同时定位多个基因的方法在审

专利信息
申请号: 201910395993.X 申请日: 2019-05-14
公开(公告)号: CN110120245A 公开(公告)日: 2019-08-13
发明(设计)人: 焦禹顺;刘贺娟;陈昊放;孙强;郭志伟;任福森 申请(专利权)人: 河南省新乡市农业科学院(新乡农业科技创新中心)
主分类号: G16B20/30 分类号: G16B20/30;G16B30/10;C12Q1/6895
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 453000 *** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 多个基因 分子标记 构建 群体 多态性分子标记 杂合基因型 表型差异 基因定位 基因分型 数量性状 性状基因 质量性状 统计分析 共显性 基因型 表型 单株 组学 验证 后代 筛选 分组 调查
【权利要求书】:

1.一种同时定位多个基因的方法,包括下述步骤:

(1)构建群体:

选取两个具有多种表型差异的纯合自交系亲本P1和P2,以P2为非轮回亲本、P1为轮回亲本进行杂交,获得杂交F1,并继续回交一代得到BC1F1群体,同时F1自交获得F2群体;

(2)利用分子标记辅助基因分型:

选取一整套均匀分布的分子标记,以任意一个BC1F1单株与任意一个F2单株为样本,筛选共显性的多态性标记;种植F2群体,使用筛选出来的共显性多态标记对所有F2单株进行基因型分析;

(3)分组种植并调查性状:

将标记基因型相同的F2单株种植在一起,调查各基因型植株的表型性状,以某一位点纯合显性、其他位点分离的基因型的植株为一组,以对应位点纯合隐性、其他位点分离的基因型的植株为另一组,对各表型性状进行统计分析,确定具有显著差异的性状作为候选的目标性状;

(4)验证:

使特定位点杂合、其他位点纯合的基因型的F2单株自交,获得F3群体,用特定位点的分子标记对F3群体进行基因分型,并按基因型分组种植,调查候选性状在分组之间是否存在显著差异,如果存在显著差异,则可以确定是特定位点的目标性状,从而将目标性状定位在特定的分子标记附近。

2.根据权利要求1所述的同时定位多个基因的方法,其特征在于,所述步骤(2)中,所述分子标记为共显性分子标记;优选地,所述分子标记为SSR标记、InDel标记或SNP标记。

3.根据权利要求1所述的同时定位多个基因的方法,其特征在于,所述步骤(2)中,选取的共显性多态标记位点数为2~5个;可选的,如果结合表型组学手段,则不受共显性多态标记位点数限制。

4.根据权利要求1所述的同时定位多个基因的方法,其特征在于,所述步骤(3)中,分组种植时,每种基因型的F2单株种植3株或3株以上。

5.根据权利要求1所述的同时定位多个基因的方法,其特征在于,所述步骤(3)中,所述统计分析方法包括t检验、方差分析等。

6.根据权利要求1所述的同时定位多个基因的方法,其特征在于,所述步骤(4)还可以用以下方法替代:使特定位点杂合、其他位点纯合的基因型的F2单株与特定位点隐性纯合、其他位点纯合的F2单株测交,获得F3群体,调查候选性状在F3群体中是否符合1:1的分离比,如果符合,则可以确定是特定位点的目标性状;用特定位点的分子标记对F3群体进行基因分型,获得每个单株的候选性状和标记基因型,并根据重组单株数量估计基因位点与分子标记之间的遗传距离。

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